冷熱沖擊反應(yīng)試箱什么牌子比較有優(yōu)勢(shì)也可稱為冷熱沖擊測(cè)試機(jī)、冷熱沖擊測(cè)試室、冷熱沖擊測(cè)試柜。常用于自動(dòng)化零部件、電子電器零組件、汽車配件、通訊組件、金屬、塑膠等行業(yè)產(chǎn)品及零配件，航天、國(guó)防工業(yè)、兵工業(yè)、半導(dǎo)體陶瓷、電子芯片IC及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)沖擊力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的實(shí)際質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它作為理想的測(cè)試設(shè)備。
愛佩冷熱沖擊反應(yīng)試箱什么牌子比較有優(yōu)勢(shì)滿足GJB367.2-1987通信設(shè)備通用技術(shù)條件,GJB367.2-1987標(biāo)準(zhǔn)制訂了統(tǒng)一的環(huán)境試驗(yàn)方法,用以確定通信設(shè)備對(duì)環(huán)境的適應(yīng)能力.GJB367.2-1987標(biāo)準(zhǔn)所給出的試驗(yàn)方法均為人工環(huán)境的試驗(yàn)方法,GJB367.2-1987標(biāo)準(zhǔn)給出的試驗(yàn)方法適用于全部通信設(shè)備(包括航空導(dǎo)航設(shè)備),本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的各種環(huán)境試驗(yàn)條件及試驗(yàn)方法供制訂設(shè)備有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)條件時(shí)應(yīng)用.如果遇到工作環(huán)境條件高于或低于本標(biāo)準(zhǔn)的嚴(yán)酷等級(jí)時(shí),設(shè)備有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)條件可另行規(guī)定.
愛佩滿足GB/T2423.22-2012溫度變化試驗(yàn)型號(hào)及技術(shù)參數(shù)如下：
AP-CJ-50內(nèi)箱尺寸：350×350×400外箱尺寸：1560×1750×1440(分別是寬×高×深) (mm)
AP-CJ-80內(nèi)箱尺寸：500×400×400外箱尺寸：1700×1800×1440(分別是寬×高×深) (mm)
AP-CJ-100內(nèi)箱尺寸：600×400×400外箱尺寸：1800×1800×1440(分別是寬×高×深) (mm)
AP-CJ-150內(nèi)箱尺寸：600×500×500外箱尺寸：1800×1900×1540(分別是寬×高×深) (mm)
AP-CJ-250內(nèi)箱尺寸：700×600×600外箱尺寸：1900×2000×1640(分別是寬×高×深) (mm)
AP-CJ-480內(nèi)箱尺寸：800×800×750外箱尺寸：2020×2250×2150(分別是寬×高×深) (mm)
技術(shù)規(guī)格
1. 控制器：*LCD液晶顯示觸摸屏控制器；
2.工作槽溫度范圍：（A：-45），（B：-55），（D：-65）~150℃；
3.高度槽溫度：60℃ - 200℃；
4.高低溫沖擊試驗(yàn)箱低溫槽溫度：（A：-65），（B：-70），（D：-80）~-10℃；
5.溫度恢復(fù)時(shí)間：5分鐘以內(nèi)；
6.高低溫曝露時(shí)間：30分鐘
7.內(nèi)箱材質(zhì)：霧面不銹鋼SUS304；
8.外箱材質(zhì)：霧面線條處理不銹鋼SUS304；
9.壓縮機(jī)：法國(guó)*全密式壓縮機(jī)
10.電源：AC380V±10%50HZ 三相四線+保護(hù)地線。
購(gòu)選時(shí)，它們有各自的要求，沖擊溫度是指測(cè)試區(qū)實(shí)際能夠跑到的溫度zui大范圍。注意不是預(yù)熱和預(yù)冷室的極限溫度；內(nèi)箱尺寸就是根據(jù)自己家的產(chǎn)品大小及數(shù)量來(lái)選擇;試驗(yàn)負(fù)載直接影響能夠放置多少測(cè)試品。一般說(shuō)來(lái)，這個(gè)重量越大越好；它是指測(cè)試品全部從一個(gè)溫度點(diǎn)切換到另外一個(gè)溫度點(diǎn)所耗費(fèi)的時(shí)間。我們常見的規(guī)范約定≤5min。這個(gè)時(shí)間越小越好；除霜間隔時(shí)間越長(zhǎng)越好?，F(xiàn)在有寫廠家能夠做到1000cycles除霜一次，是非常理想的。除霜間隔越短說(shuō)明該設(shè)備的氣密性越差。
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