可程式三槽式冷熱沖擊試驗箱
廣泛用于航空、航天、電子、IT行業(yè)等模擬試品在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等，同時可通過此試驗，進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
產(chǎn)品特點：
●設備分為：高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部份，采*之斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果，應用冷熱風路切換方式導入試品中，做試驗時自動打開高溫區(qū)與低溫區(qū)的風閥從而達到高溫與低溫的沖擊試驗，待測品為不移動之方式。
●采用LCD液晶觸摸屏中英文操作控制系統(tǒng)，操作簡易，可設定、顯示各種運行數(shù)據(jù)。
●高溫沖擊或低溫沖擊時， 大時間可達999H， 大循環(huán)周期可達9999次。
●系統(tǒng)可作自動循環(huán)或手動性沖擊并可設定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖、熱沖啟始。
●冷卻采用二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。
●具有RS-232通信接口裝置，可與計算機聯(lián)機操控、編輯、記錄及信號點狀態(tài)，使用便捷。
可擴充：
液態(tài)氮低溫輔助系統(tǒng)
溫度自動記錄器
操作記錄軟件
執(zhí)行標準：
GB11158-2008 高溫試驗條技術(shù)條件
GB10589-2008 低濁試驗箱技術(shù)條件
GB10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件（濕度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部份:試驗方法 試驗A:低溫IEC 6008-2-1:2007
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部份:試驗方法 試驗B:高溫IEC 6008-2-2:2007
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部份:試驗方法 試驗N:溫度變化IEC 60068-2-14:1984
GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部份：高溫試驗
GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部份：低溫試驗
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