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布魯克 D8 達芬奇 X射線衍射儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱四川禾業(yè)科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號布魯克
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2021/2/24 9:52:00
  • 訪問次數(shù)640
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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四川禾業(yè)科技有限公司成立于2015年,是一家為用戶提供實驗室儀器一站式解決方案的企業(yè)。聚集了一批具有高水平研究人員和應(yīng)用技術(shù)人才,不斷研制、開發(fā)大批新穎、優(yōu)質(zhì)、完善的儀器儀表產(chǎn)品,擁有完善的管理制度和強大的技術(shù)力量,為客戶提供售前,售中,售后*的服務(wù)。公司與各大廠商建立了良好的合作關(guān)系,致力于為客戶提供優(yōu)質(zhì)的儀器和完善的服務(wù),并提供有競爭力的價格。我們視質(zhì)量為生命,視服務(wù)為己任,您的滿意,就是我們的追求。

四川禾業(yè)科技有限公司立足于現(xiàn)代科技理論與生產(chǎn)實踐相結(jié)合的基礎(chǔ)上,注重人才質(zhì)量,講究集約開發(fā),以服務(wù)于生產(chǎn)、奉獻于用戶。公司*致力于電化學(xué)、色譜、光譜、環(huán)境檢測等精密分析儀器及實驗室常用設(shè)備的研制、生產(chǎn)和銷售。

公司文化

合作共贏 持續(xù)發(fā)展
企業(yè)的發(fā)展,猶如人生旅行,路漫漫,其修遠兮!“短跑”“不輸在起跑線”等概念不適合我們的價值觀,在與合作伙伴的并肩前行中,我們堅持提供快捷、方便的租車服務(wù),實現(xiàn)“共贏"的合作策略!

快速響應(yīng)客戶需求(專業(yè)、安全、高效)
專業(yè):標(biāo)準(zhǔn)化、規(guī)范化、流程化體現(xiàn)團隊職業(yè)素養(yǎng)
安全:站在客戶的現(xiàn)實角度,站在客戶的發(fā)展角度,用我們的專業(yè)規(guī)避一切潛在風(fēng)險,助企業(yè)健康成長

高效:立即做,快速做,持續(xù)做,正確做

卡爾費休水分測定儀、卡氏水分測定儀、卡氏加熱爐
產(chǎn)品簡介 布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達芬奇設(shè)計,通過TWIN-TWIN光路設(shè)計,成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換
布魯克 D8 達芬奇 X射線衍射儀 產(chǎn)品信息

布魯克 D8 達芬奇 X射線衍射儀 核心參數(shù)


  • 角度偏差
    0.0001
  • 重復(fù)性
    0.0001
  • 小步進角度
    0.0001
  • 發(fā)生器功率
    3kW
  • 儀器種類
    多晶衍射儀

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達芬奇設(shè)計,通過TWIN-TWIN光路設(shè)計,成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過革命性的TWIST TUBE技術(shù),使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應(yīng)用(織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!

高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供保證!

的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率, 而且大幅提高了設(shè)備的探測靈敏度。



技術(shù)指標(biāo)

Theta/theta 立式測角儀

2Theta角度范圍-110~168°

角度精度0.0001

Cr/Co/Cu,標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管

探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器

儀器尺寸:1868x1300x1135mm

重量:770kg


應(yīng)用

物相定性分析

結(jié)晶度及非晶相含量分析

結(jié)構(gòu)精修及解析

物相定量分析

點陣參數(shù)精確測量

無標(biāo)樣定量分析

微觀應(yīng)變分析

晶粒尺寸分析

原位分析

殘余應(yīng)力

低角度介孔材料測量

織構(gòu)及ODF分析

薄膜掠入射

薄膜反射率測量

小角散射


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