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BRUKER DektakXT探針式表面輪廓儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱上海人和科學(xué)儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2021/4/26 15:31:36
  • 訪問次數(shù)343
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上海人和科學(xué)儀器有限公司二十年來一直致力于提升中國實驗室生產(chǎn)力水平,從提供品質(zhì)的實驗室儀器、設(shè)備,到為客戶度身定制系統(tǒng)的實驗室整體解決方案,通過專業(yè)、細致和全面的服務(wù)實現(xiàn)“為客戶創(chuàng)造更多價值”的承諾。 人和自1995年成立以來,始終恪守“在競爭中創(chuàng)業(yè)、在變化中突破”的創(chuàng)業(yè)理念,以誠信的經(jīng)營之道贏得客戶的信任,以過硬的技術(shù)水平贏得客戶的尊重和認可,在業(yè)內(nèi)具有深遠的影響力,逐漸成為實驗室集成商*。目前人和科儀服務(wù)過的客戶已經(jīng)超過10000家,眾多世界五企皆已成為人和的忠實客戶。人和公司提供專業(yè)、的實驗室整體解決方案:人和公司提供的不僅僅是單純的產(chǎn)品,而是集產(chǎn)品、應(yīng)用和服務(wù)于一體的解決方案。實驗室系統(tǒng)是多技術(shù)層面的復(fù)雜系統(tǒng),除了實現(xiàn)實驗技術(shù)這個主要功能外,還涉及許多其它系統(tǒng),如水、電、氣、通風(fēng)、管道、信息、真空、檢測報警、廢氣(液、物)處理,危險品儲存、安全、消防等。人和公司技術(shù)人員不僅為您提供實驗室的整體設(shè)計和安裝,還從專業(yè)的角度出發(fā),結(jié)合儀器的使用要求,根據(jù)用戶需要,參考上的實驗室標(biāo)準(zhǔn),對以上各系統(tǒng)進行整體規(guī)劃和設(shè)計,為您提供水準(zhǔn)的實驗室解決方案。人和公司一直與供應(yīng)商保持良好的合作關(guān)系,不斷引進各種的實驗室產(chǎn)品。目前,人和公司主要經(jīng)營歐、美、日實驗室儀器領(lǐng)域的品牌產(chǎn)品,在市場上擁有優(yōu)勢份額,旗下產(chǎn)品種類十分齊全,如TRILOS,GRABNER,Erlab,Nabertherm,LUM,MICCRA,SPECTRO,LLOYD,Espec,JULABO,ILMVAC, JEIO TECH, BROOKFIELD,IKA,MEMMERT,ATAGO,EXAKT等,產(chǎn)品涵蓋計量儀器,實驗室通用儀器,化學(xué)分析,物理測試等儀器,如天平,滴定儀,水分儀,粘度計,攪拌器,烘箱,色差計,分光光度計,色譜等。涉及到石化,精細化工,制藥,日化,食品,涂料,建材,電子,汽車,農(nóng)業(yè)等眾多生產(chǎn)行業(yè),以及高校,研究所等科研機構(gòu)的實驗室。作為向?qū)嶒炇?、工業(yè)中分析、檢測方案的提供者,人和以其品質(zhì)優(yōu)良、價格合理的儀器及專業(yè)產(chǎn)品,貼切的應(yīng)用和周到的服務(wù)完美詮釋著人和的承諾。 人和公司憑借金蝶EAS系統(tǒng)和豐富的存貨管理經(jīng)驗,建立了儀器物流中心,我們能夠保證良好的現(xiàn)貨率和流通率,為廣大客戶提供優(yōu)秀的服務(wù)。 展望將來,人和公司將會引進更多的實驗室產(chǎn)品,并將更多專業(yè)的應(yīng)用技術(shù)滲透到日常服務(wù)中去,更便捷、更周到地滿足客戶需求。對人和而言,滿足不同行業(yè)、不同應(yīng)用、不同需求的用戶是我們孜孜以求的坐標(biāo)和不斷超越的動力!在未來激烈多變的市場競爭中,人和將與客戶一起攜手并進,共創(chuàng)輝煌。
天平,滴定儀,水分儀,粘度計,攪拌器,烘箱,色差計,分光光度計,色譜等
布魯克DektakXT探針式表面輪廓儀是一項創(chuàng)新性的設(shè)計,可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測量重復(fù)性可以達到5。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的,更加鞏..
BRUKER DektakXT探針式表面輪廓儀 產(chǎn)品信息

布魯克DektakXT探針式表面輪廓儀是一項創(chuàng)新性的設(shè)計,可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測量重復(fù)性可以達到5Å。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的,更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT一定能夠做到功能更強大,操作更簡易,檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT探針式表面輪廓儀的技術(shù)突破,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。 

 
DektakXT 設(shè)計
探針系統(tǒng)的評價體系受三個因素影響:能否重復(fù)測量,數(shù)據(jù)采集和分析速度快慢,操作的難易程度。這些因素直接影響了數(shù)據(jù)的質(zhì)量和操作效率。DektakXT利用全新結(jié)構(gòu)和和*軟件來實現(xiàn)可重復(fù)、時間短、易操作這三個必要因素,達到*的儀器使用效果。
 
強化操作的可重復(fù)性 Delivering Repeatable Measurements
DektakXT在設(shè)計上的幾個提高,使其在測量臺階高度重復(fù)性方面具有優(yōu)異的表現(xiàn),臺階高度重復(fù)性可以到達5Å.使用single-arch結(jié)構(gòu)比原先的懸臂梁設(shè)計更堅硬持久不易彎曲損壞,而且降低了周圍環(huán)境中聲音和震動噪音對測量信號的影響。同時,Bruker還對儀器的智能化電子器件進行完善,提高其穩(wěn)定性,降低溫度變化對它的系統(tǒng)因此可以更穩(wěn)定可靠的實現(xiàn)對高度小于10nm的臺階的掃描。Single-arch結(jié)構(gòu)和智能器件的聯(lián)用,大大降低了掃描臺的噪音,增強了穩(wěn)定性,使其成為一個競爭力的表面輪廓儀。
 
提高數(shù)據(jù)采集和分析速度 SpeedingUp Collectionand Analysis

利用*的直接掃描平臺,DektakXT通過減少從得到原始數(shù)據(jù)到扣除背底噪音所需要的時間,來提高掃描效率。這一改進,大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應(yīng)力長程掃描的掃描速度。在保證質(zhì)量和重復(fù)性的前提下,可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外,DektakXT采用Bruker 64-Bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作系統(tǒng)Vision64,它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描時的數(shù)據(jù)分析處理效率。Vision64還具有*效直觀的用戶界面,簡化了實驗操作設(shè)置,可以自動完成多掃描模式,使很多枯燥繁復(fù)的實驗操作變得更快速簡潔。 

 
完善的操作和分析系統(tǒng) PerfectingOperationand Analysis

與DektakXT的創(chuàng)新性設(shè)計相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上簡潔的用戶界面,具備智能結(jié)構(gòu)、可視化的使用流程以及各種參數(shù)的自助設(shè)定以滿足用戶的各種使用要求,快速簡便的實現(xiàn)各種類型數(shù)據(jù)的采集和分析。

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