紅外熱像與熱輻射測(cè)量綜合實(shí)驗(yàn)

RLE-SA04 紅外熱像與熱輻射測(cè)量綜合實(shí)驗(yàn) 

實(shí)驗(yàn)簡(jiǎn)介

紅外熱像技術(shù)已經(jīng)在電力系統(tǒng)、土木工程、汽車(chē)、冶金、石化、醫(yī)療等諸多行業(yè)得到廣泛應(yīng)用。本實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)緊扣教學(xué)核心知識(shí)點(diǎn)，并結(jié)合工程實(shí)際應(yīng)用，通過(guò)光電轉(zhuǎn)換、信號(hào)處理等手段，檢測(cè)目標(biāo)物體輻射與溫度分部之間的對(duì)應(yīng)聯(lián)系，并將之轉(zhuǎn)換為圖像信息，從而直觀的實(shí)現(xiàn)目標(biāo)物輻射測(cè)量。旨在讓學(xué)生理解并掌握熱輻射的基本定律，以及紅外成像的工作原理和測(cè)量方法，是光電相關(guān)專(zhuān)業(yè)理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)。

實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

1、黑體輻射特性研究實(shí)驗(yàn)；
2、驗(yàn)證維恩位移定律；
3、熱發(fā)射率影響因素研究實(shí)驗(yàn)；
4、熱發(fā)散率的測(cè)量。

知識(shí)點(diǎn)

普朗克輻射定律、斯特潘-波爾茲曼定律、維恩位移、光學(xué)系統(tǒng)調(diào)制函數(shù)、溫度分辨率、最小可分辨溫差、光電轉(zhuǎn)換。

選配設(shè)備參數(shù)

計(jì)算機(jī)（基本配置）。

主要設(shè)備參數(shù)

　　1.黑體標(biāo)準(zhǔn)源：

　　工作溫度： 0~50℃，傳感器： Pt100鉑電阻，控溫方式： PID，電源電壓：220V，溫度范圍：室溫-60℃，分辨率： 0.1℃，發(fā)射率： >0.97，升溫時(shí)間：100℃≤30分鐘。

　　2.紅外熱像儀：

　　探測(cè)器類(lèi)型：光讀出非制冷焦平面，分辨率： 80×60，波長(zhǎng)范圍： 7.5~14um，視場(chǎng)角： 41°×31°，熱靈敏度(NETD)： <0.1℃，調(diào)焦方式：免調(diào)焦，幀頻： 9Hz，測(cè)溫范圍： -10℃～+150℃，精度： ±2℃或±2%，取較大值，輻射率校正： 0.1至1.0可調(diào)，背景溫度校正;根據(jù)輸入環(huán)境溫度自動(dòng)校正;工作溫度： -10℃～+50℃，存儲(chǔ)溫度： -20℃～+60℃，濕度：相對(duì)濕度≦85%(非冷凝);觸摸屏：熱圖像：可見(jiàn)光圖像： MSX多波段動(dòng)態(tài)成像;圖庫(kù)。

　　3.電路修復(fù)裝置：

　　發(fā)熱異常探測(cè)與修復(fù)，發(fā)熱異常溫度： 30℃~60℃。

　　4.發(fā)熱待測(cè)裝置：

　　驅(qū)動(dòng)電壓40V，發(fā)熱面積： 16cm2，設(shè)置溫度范圍：室溫~60℃，可達(dá)400℃。

　　5.濾光器：

　　HR@380nm~780nm， AR@7μm~14μm; AR@380nm~780nm， HR@7μm~14μm。

　　6.精密光學(xué)導(dǎo)軌：

　　L×W=600mm×90mm，配套滑塊，調(diào)節(jié)支座、支桿。

　　7.實(shí)驗(yàn)手冊(cè)及保修卡。