*的分析工具

GX53顯微鏡的各種觀察功能可獲得清晰銳利的圖像，讓您能夠?qū)悠愤M(jìn)行可靠的缺陷檢測(cè)。奧林巴斯Stream圖像分析軟件的新型照明技術(shù)和圖像采集方案可為您提供評(píng)估樣品和記錄研究結(jié)果的更多選擇。

從不可見到可見：MIX技術(shù)

MIX技術(shù)將暗場(chǎng)與另一種觀察方法（如明場(chǎng)或偏振）相結(jié)合，讓您能夠觀察傳統(tǒng)顯微鏡難以觀察的樣品。圓形LED照明器的定向暗場(chǎng)功能可在時(shí)間照射一個(gè)或多個(gè)象限，從而減少樣品光暈，更好地觀察表面紋理。

印刷電路板切片

	明場(chǎng) 襯底層和通孔不可見。		暗場(chǎng) 痕跡不可見。		MIX: 明場(chǎng)+暗場(chǎng) 所有組件均可清晰呈現(xiàn)。

不銹鋼

	明場(chǎng) 紋理無法觀察。		暗場(chǎng)象限 色彩信息被去除。		MIX: 明場(chǎng)+暗場(chǎng)象限 材料色彩和紋理均可觀察。

輕松生成全景圖像: 即時(shí)MIA

通過多圖像拼接(MIA)功能, 您轉(zhuǎn)動(dòng)手動(dòng)載物臺(tái)上的XY旋鈕即可輕松完成圖像拼接—電動(dòng)載物臺(tái)為選配。奧林巴斯Stream軟件采用模式識(shí)別生成全景圖像，特別適合用于檢查滲碳和金屬流動(dòng)情況。

螺栓的金屬流動(dòng)

	使用XY旋鈕調(diào)節(jié)載物臺(tái)位置。				可觀察到金屬流動(dòng)的全部狀況。

生成全聚焦圖像EFI

奧林巴斯Stream軟件的景深擴(kuò)展(EFI) 功能可采集高度超出景深范圍的樣品圖像。EFI可將這些圖像堆疊在一起生成單幅的樣品全聚焦圖像。即便分析表面不平坦的切片樣品時(shí)，EFI也能夠創(chuàng)建全聚焦圖像。

EFI配合手動(dòng)或電動(dòng)Z軸聚焦裝置，可生成高度圖像，對(duì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行可視化觀察。

樹脂零件

	使用對(duì)焦手柄調(diào)整物鏡高度。		EFI自動(dòng)采集和堆疊多幅圖像，生成單幅的樣品全聚焦圖像。		生成全聚焦圖像。

利用HDR同時(shí)采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域

采用*圖像處理技術(shù)的高動(dòng)態(tài)范圍(HDR)可在圖像內(nèi)調(diào)整亮度差異，從而減少眩光。其也有助于增強(qiáng)低對(duì)比度圖像的對(duì)比度。高動(dòng)態(tài)范圍(HDR)功能可用于觀察電子組件的細(xì)微結(jié)構(gòu)并識(shí)別金屬晶界。

金板

	某些部位存在眩光。		暗光區(qū)域和明亮區(qū)域利用HDR獲得清晰呈現(xiàn)。

鉻擴(kuò)散涂層

	對(duì)比度低且不清晰。		利用HDR增強(qiáng)對(duì)比度。

應(yīng)用

采用不同觀察方法所獲得的效果示例。

經(jīng)過拋光的AlSi樣品（明場(chǎng) / 暗場(chǎng)）

	明場(chǎng)		暗場(chǎng)

明場(chǎng)：一種觀察直接照射樣品反射光的常見觀察方法。暗場(chǎng)：可觀察樣品的散射或衍射光線，因此諸如微小劃痕或瑕疵等缺陷非常明顯。

球墨鑄鐵（明場(chǎng) / DIC）

	明場(chǎng)		DIC觀察

微分干涉相差顯微技術(shù)(DIC)：一種將樣品高度以類似提高了對(duì)比度的3D圖像，呈現(xiàn)出浮雕效果的觀察技術(shù)；其非常適用于觀察金相結(jié)構(gòu)和礦物等具有很細(xì)微高度差的樣品。

鋁合金（明場(chǎng)/偏光）

	明場(chǎng)		偏光觀察

偏光：一種能夠突出材料紋理和晶體狀態(tài)的觀察技術(shù)，用于觀察諸如球墨鑄鐵的石墨生長類型等金相結(jié)構(gòu)和礦物。

電子組件（明場(chǎng)/ MIX觀察）

	明場(chǎng)		MIX: 明場(chǎng)+暗場(chǎng)

MIX觀察：將明場(chǎng)和暗場(chǎng)相結(jié)合，樣品的顏色和結(jié)構(gòu)均可觀察。
上面的MIX觀察圖像清晰再現(xiàn)了該組件的顏色和紋理以及粘合劑層的狀況。

奧林巴斯Stream軟件 – 專為材料科學(xué)優(yōu)化

GX53顯微鏡和奧林巴斯Stream軟件可為滿足各種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求的金相分析方法提供支持。用戶通過分步操作指導(dǎo)能夠輕松快捷完成樣品分析。

顆粒分析 – 計(jì)數(shù)和測(cè)量解決方案

計(jì)數(shù)和測(cè)量解決方案使用閾值法，能夠可靠地分離目標(biāo)（如顆粒和劃痕）與背景?？墒褂贸^50種不同的參數(shù)對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)量或評(píng)級(jí)，包括形狀、大小、位置和像素特性等。

	常規(guī)軟件 晶界不清晰		侵蝕后 的鋼的顯微組織 （原始圖像）		奧林巴斯Stream 晶界清晰可辨

晶粒分類結(jié)果

顯微組織中的晶粒尺寸

測(cè)量晶粒尺寸和分析鋁、鐵素體和奧氏體等鋼的晶體結(jié)構(gòu)以及其他金屬的顯微組織。
支持標(biāo)準(zhǔn)：ISO, GOST, ASTM, DIN, JIS, GB/T

鐵素體晶粒的顯微組織

	晶粒度截線法解決方案

評(píng)估石墨球化率

評(píng)估鑄鐵樣品（球墨/蠕墨）的石墨球化率及含量。對(duì)石墨節(jié)點(diǎn)的形態(tài)、分布和大小歸類。
支持標(biāo)準(zhǔn)：ISO、NF、ASTM、KS、JIS、GB/T

顯示球狀石墨結(jié)構(gòu)的延性鑄鐵

鑄鐵解決方案

高純鋼中非金屬夾雜物含量的評(píng)定

對(duì)在惡劣視場(chǎng)采集圖像中的非金屬夾雜物或手動(dòng)發(fā)現(xiàn)的惡劣夾雜物進(jìn)行分類。
支持標(biāo)準(zhǔn)：ISO、EN、ASTM、DIN、JIS、GB/T、UNI

帶有非金屬夾雜物的鋼

夾雜物惡劣視場(chǎng)解決方案

您的樣品圖像與參考圖像對(duì)比

可輕松比較實(shí)時(shí)或靜態(tài)圖像與自動(dòng)縮放的參考圖像。該解決方案包括符合各種標(biāo)準(zhǔn)的參考圖像（也可單獨(dú)購買更多的參考圖像）。支持包括實(shí)時(shí)疊加顯示和并排比較等多種模式。
支持標(biāo)準(zhǔn)：ISO、EN、ASTM、DIN、SEP

	帶有非金屬夾雜物的鋼	鐵素體晶粒的顯微組織