兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱目前適用的行業(yè)及產(chǎn)品有光電、LED、顯示器、顯示屏連接器，PCB連接器，F(xiàn)PC，電感器，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，太陽能組件，光伏組件，光纖，LCD，PCB，F(xiàn)PC，微電子，電機(jī)，汽車燈產(chǎn)品及零部件等大型產(chǎn)品或者大型零部件。從很低到很高的溫度包括中間的任意溫度均可隨意設(shè)定恒溫或者沖擊試驗(yàn)。
二、產(chǎn)品型號(hào)3AP-CJ-50A
三、控制儀表
愛佩自主研發(fā)的7英寸超大觸摸AP-950可程序溫度控制器全觸摸屏控制器，觸摸屏輸入，根據(jù)客戶要求可任意設(shè)定不同高低溫沖擊溫度點(diǎn)，滿足做測試的不同需求。
四、試樣限制
本試驗(yàn)設(shè)備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。
五、特點(diǎn)
·愛佩自主研發(fā)7英寸超大觸摸AP-950可程序溫度控制器。
·無紙式記錄功能，具實(shí)時(shí)顯示溫度沖擊試驗(yàn)變化之曲線圖及記錄雙重功能。
·二箱移動(dòng)式冷熱沖擊，安全的氣壓驅(qū)動(dòng)測試物上下來回沖擊。
·冷熱沖擊機(jī)構(gòu)移動(dòng)時(shí)間在10秒內(nèi)，可符合MIL，LEC，JIS等規(guī)范。
·冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間在5分鐘內(nèi)，可符合相關(guān)試驗(yàn)規(guī)范。
·采用HFC環(huán)保冷媒，二元超低溫冷凍系統(tǒng)設(shè)計(jì)，降溫快、效率高。
六、兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱容積、尺寸和重量
6.1.內(nèi)容積50L
6.2.內(nèi)箱尺寸400*350*350mm(W*H*D)
6.3.外型尺寸(約)1350*1800*1850mm(W*H*D)
6.4.重量約700㎏
七、性能指標(biāo)
7.1.測試環(huán)境條件機(jī)器周圍環(huán)境溫度維持在+25~+30℃之間，相對濕度：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正常大氣壓力。
7.2.滿足標(biāo)準(zhǔn).GB/T2423.1-2008低溫試驗(yàn)方法Testmethodoflowtempemturetest
·GB/T2423.2-2008高溫試驗(yàn)方法Testmethodofhightemperaturetest
·GB/T2423.22-2012溫度變化試驗(yàn)Testoftemperaturechantge
·GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)Testoftemperatureshock
·GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)Testoftemperatureshock
·GJB367.2-87溫度沖擊試驗(yàn)Testoftemperatureshock
·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等
7.3.測試室溫度范圍：-40℃～+150℃(風(fēng)冷式)
7.4.高溫室
7.4.1.預(yù)熱溫度范圍RT～+165℃
7.4.2.升溫時(shí)間
+50℃→+165≤30min
注：升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
7.5.低溫室
7.5.1.預(yù)冷溫度范圍RT～-55℃
7.5.2.降溫時(shí)間+20℃→-55℃≤約60min
注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
7.6.試驗(yàn)室（試樣區(qū)）
7.6.1.試驗(yàn)方式采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進(jìn)行沖擊,完成冷熱溫度沖擊測試。
7.6.2.溫度波動(dòng)度±0.5℃
7.6.3.溫度偏差±2.0℃
7.6.5.溫度恢復(fù)時(shí)間3~5min；轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s（風(fēng)門開啟時(shí)間：5秒以內(nèi)）
5.防水性能好，因?yàn)榕菽资欠忾]的，封閉率達(dá)95%,雨水不會(huì)從孔間滲過去。
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