高溫高濕測試箱適用于所有工業(yè)產(chǎn)品或原材料做高溫、低溫的可靠性試驗。對電工電子、航空航天、汽車摩托、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫恒定或(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗其各項性能指標(biāo)。
高溫高濕測試箱技術(shù)參數(shù):
一、工作室尺寸:500×600×500mm(W×H×D)更多尺寸可以選擇請咨詢業(yè)務(wù)員索取產(chǎn)品介紹目錄或者報價。
二、溫度范圍:
1.溫度范圍: 0℃~150℃;-20℃~150℃;-40℃~150℃;-70℃~150℃(可任意選擇與設(shè)定)
三、升降溫時間:
1. RT+10℃→150℃ 約40分鐘(非線性空載,約3℃/分鐘)
2. RT+10℃→-70℃ 約90分鐘(非線性空載,約1℃/分鐘)
四、溫度誤差:
1.解析精度:溫度:±0.1℃
2.控制精度:溫度:±0.3℃
3.分布精度溫度: ±1.0℃ 100℃~150℃時:±1.5℃
滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件
2.GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件
3.GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件
4.GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
5.GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法
6.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法
7.GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導(dǎo)則