Palas
通用掃描遷移率粒度儀，適合2-400 nm的高濃度應(yīng)用
? 2至400 nm粒徑分布
? 連續(xù)和快速掃描的測量原理
? 高分辨率，最多128個(gè)分類器/衰減
? 適用于高達(dá)108顆粒/立方厘米的濃度
? 通用連接其他制造商的DMA和納米粒子計(jì)數(shù)器
? 圖形顯示測量值
? 直觀操作，使用7英寸觸摸屏和GUI
? 集成數(shù)據(jù)記錄儀
? 支持多種接口和遠(yuǎn)程訪問
? 低維護(hù)
? 功能可靠
? 減少您的運(yùn)營費(fèi)用 氣溶膠靜電計(jì)的一個(gè)主要優(yōu)點(diǎn)是可以進(jìn)行非?？焖俚臏y量。但是，這種方法需要很高的成本。因此，其適用性被限制于高氣溶膠濃度（例如，燃燒過程或顆粒發(fā)生器的下游）?？梢酝ㄟ^物理參數(shù)直接追溯每時(shí)間單位（流量）的電荷測量值。其結(jié)果是，此方法主要用作凝結(jié)粒子計(jì)數(shù)器（例如UF-CPC）校準(zhǔn)期間的參考。 U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶界面進(jìn)行操作?？梢栽诙潭?/span>30秒內(nèi)執(zhí)行單粒子分布掃描，或者最多在128個(gè)尺寸通道中執(zhí)行掃描，在此期間，DEMC分類器中的電壓連續(xù)變化，從而導(dǎo)致每個(gè)尺寸通道的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)效率更高。集成的數(shù)據(jù)記錄器允許在設(shè)備上線性和對數(shù)顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數(shù)據(jù)評估（豐富的統(tǒng)計(jì)和平均值計(jì)算）和導(dǎo)出功能。 U-SMPS通常作為獨(dú)立設(shè)備運(yùn)行，但也可以使用各種接口（USB，LAN，WLAN，RS-232 / 485）連接到計(jì)算機(jī)或網(wǎng)絡(luò)。 Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA，CPC和氣溶膠靜電計(jì)。 U-SMPS的準(zhǔn)確尺寸測定和可靠性能尤其重要，特別是對于校準(zhǔn)。所有組件都必須通過嚴(yán)格的質(zhì)量保證測試，并在內(nèi)部組裝。 圖1展示U-SMPS的工作原理： 圖1：使用氣溶膠靜電計(jì)作為濃度測量裝置的通用掃描遷移率粒度儀（U-SMPS）的工作原理 氣溶膠在進(jìn)入分類器（DEMC列）之前經(jīng)過調(diào)節(jié)。可選的干燥器（例如硅膠，Nafion）可以去除顆粒中的水分。使用雙極中和劑（例如Kr 85）來確保測定的氣溶膠電荷分布。為了去除大于分類器尺寸范圍的顆粒，需要在DEMC的入口處使用撞擊器。 然后，氣溶膠通過入口導(dǎo)入DEMC色譜柱。沿著外部電極的氣溶膠流在此與護(hù)套氣流仔細(xì)合并。重要的是在此處避免任何湍流，以確保層流。電極的表面在光滑度和公差方面必須具有*的質(zhì)量。 鞘空氣是干燥、無顆粒的載氣（通常是空氣），其體積大于連續(xù)在閉環(huán)中循環(huán)的氣溶膠體積。鞘空氣與樣品空氣的體積比決定傳遞函數(shù)，因此決定DEMC的分離能力。通過施加電壓，在內(nèi)外電極之間會(huì)產(chǎn)生一個(gè)徑向?qū)ΨQ的電場。內(nèi)電極在末端帶有小縫隙，帶正電。通過平衡每個(gè)粒子上的電場力及其在電場中的空氣動(dòng)力學(xué)阻力，帶負(fù)電的粒子被轉(zhuǎn)移到正電極。根據(jù)它們的電遷移率，一些顆粒會(huì)穿過狹縫并離開DEMC。 在工作中，電壓和電場因此而連續(xù)變化。結(jié)果，具有變化遷移率的顆粒會(huì)離開DEMC，并且由納米顆粒計(jì)數(shù)器 – 在此顯示為氣溶膠靜電計(jì)（例如Palas®Charme®）連續(xù)測量-。 為了組合數(shù)據(jù)（電壓、電荷數(shù)、電荷分布等）并獲得粒度分布，必須進(jìn)行逆變換。為此，使用的算法是由IfT（德國萊比錫）的Wiedensohler教授開發(fā)的算法。 圖2：在觸摸屏顯示Palas®DNP 3000顆粒發(fā)生器產(chǎn)生的氣溶膠粒徑分布 用戶界面和軟件 基于持續(xù)的客戶反饋，我們設(shè)計(jì)了良好的用戶界面和軟件，以實(shí)現(xiàn)直觀的操作、實(shí)時(shí)控制并顯示測量數(shù)據(jù)和參數(shù)。 此外，軟件還通過集成的數(shù)據(jù)記錄器、完善的導(dǎo)出功能和網(wǎng)絡(luò)支持為數(shù)據(jù)管理提供支持。測量數(shù)據(jù)可以顯示和評估。 可用系統(tǒng) 圖3顯示Palas®可提供的DEMC和Charme®氣溶膠靜電計(jì)的兩種組合。 對于DEMC分類器與Palas®冷凝粒子計(jì)數(shù)器的組合，請閱讀“U-SMPS 1xx0_2xx0_V0011212”規(guī)格參數(shù)表。 其他制造商提供的大多數(shù)DMA、CPC和氣溶膠靜電計(jì)都可以用作U-SMPS系統(tǒng)的組件。 圖3：用于高濃度顆粒測量的Palas®U-SMPS系統(tǒng)概述
適用于高氣溶膠濃度的Palas®通用掃描遷移率粒度儀（U-SMPS）有兩種版本。 U-SMPS帶有短分類柱（1700型），特別適合2-400 nm范圍內(nèi)的*精度粒度分布測量。Palas®U-SMPS系統(tǒng)包括一個(gè)分類器[在ISO 15900中定義稱為差動(dòng)遷移率分類器（DEMC），也稱為差動(dòng)遷移率分析儀（DMA）]，根據(jù)氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后，在下游的Charme®氣溶膠靜電計(jì)中測量這些粒子攜帶的電荷。
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