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顯微光譜測量系統(tǒng)

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       號MicOS
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2022/6/30 16:04:57
  • 訪問次數(shù)626
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顯微光譜顯微光譜測量系統(tǒng)

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成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達(dá)的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質(zhì),為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品:

 

 · 1900年 世博會上的干涉儀、光彈性測量儀      
 · 1962年 雙級光譜儀和1400系列雙級激光拉曼光譜儀以及計算機(jī)全控制熒光光譜儀  
 · 1968年 商品化全息光柵      
 · 1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎)      
 · 1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎),順序掃描型ICP光譜儀    
 · 1975年 全計算機(jī)化光子計數(shù)拉曼光譜儀和全計算機(jī)化光子計數(shù)熒光光譜儀  
 · 1983年 離子刻蝕“閃耀”全息光柵    
 · 1985年 光柵型波分復(fù)用器    
 · 1989年 超級校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 · 1996年 榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎    
 · 1998年 可配CCD檢測器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導(dǎo)發(fā)光技術(shù)獎)    
 · 1998-1996年 收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司    
 · 2001年 獲得美國宇航局(NASA)頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻(xiàn)獎”    
 · 2002年 世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會獲得Editor佳新品獎  
 · 2002-2003年 收購德國Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司    
 · 2006年 美國宇航局(NASA)噴射推進(jìn)實(shí)驗(yàn)室頒發(fā)“運(yùn)行碳觀測器(OCO)衍射光柵杰出貢獻(xiàn)獎”

image.png    

HORIBA歐洲總部

 

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司,完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。

 

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家?,F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學(xué)光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測器,CCD檢測器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障!

 

 

 

科學(xué)儀器:拉曼光譜分析,拉曼光譜設(shè)備,熒光光譜儀,粒度分布儀,粒度分析儀
產(chǎn)地 進(jìn)口 產(chǎn)品新舊 全新
HORIBA MicOS顯微光譜測量系統(tǒng)可提供完整的顯微光譜測量解決方案,它主要包括一個直接與光譜儀耦合的顯微探測頭和一個高性能三光柵成像光譜儀,該光譜儀多可同時接三個探測器。
顯微光譜測量系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

HORIBA MicOS顯微光譜測量系統(tǒng)詳細(xì)信息:
        HORIBA Scientific新研發(fā)的MicOS顯微光譜系統(tǒng),可提供完整的顯微光譜測量解決方案,它主要包括一個直接與光譜儀耦合的顯微探測頭和一個高性能三光柵成像光譜儀,該光譜儀多可同時接三個探測器。

1、是顯微水平光致發(fā)光、電致發(fā)光和光調(diào)制反射光譜研究的理想選擇。

2、覆蓋200nm~1600nm的寬光譜范圍,可廣泛應(yīng)用于各類材料的測量,如半導(dǎo)體和生物樣品等。

3、*的內(nèi)置數(shù)碼相機(jī)設(shè)計,可以實(shí)時觀察樣品。

4、可提供物鏡朝下或物鏡側(cè)向的兩種配置選擇,便于測量放置在正置低溫恒溫器中的樣品。

5、能與多種激光波長匹配,擁有強(qiáng)的靈活性,并且易于操作。

6、采用享有盛譽(yù)的LabSpec軟件控制整個系統(tǒng)。
 

HORIBA MicOS顯微光譜測量系統(tǒng)技術(shù)參數(shù):

光譜儀型號 iHR320  iHR550
光譜范圍1 200 nm~1600nm
光譜分辨率2 0.18nm  0.1nm
探測器 類型 CCD 1024 x 256 OE3 IGA 512 x 25 Single Channel
光譜范圍 200nm~1050nm 800nm~ 1600nm 190nm~1600nm4
激發(fā)波長5 532nm 633nm 785nm
顯微鏡物鏡 放大倍數(shù) 10x 50x 100x
光斑大小 100um <20um <10um
樣品臺 XYZ(手動或自動可選)

1 與物鏡,濾光片和探測器選擇有關(guān)
2 采用1200g/mm光柵和開放電CCD探測器
3 BIUV, BIVS, BIDD 等探測器可選
4 覆蓋此光譜范圍需要兩個探測器
5 如需其他可選配置,請與我們聯(lián)系

 

關(guān)鍵詞:顯微鏡
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