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原子力顯微鏡PZ-1000 AFM

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱上海蒲柘光電儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號PZ-1000 AFM
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2022/7/21 16:45:49
  • 訪問次數(shù)243
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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上海蒲柘光電儀器有限公司總部座落于中國上海市科技創(chuàng)業(yè)基地上海松江麗德創(chuàng)業(yè)園區(qū),是一家集顯微鏡、顯微熔點儀、顯微攝像頭及圖像分析系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)及銷售為一體的多元化高科技企業(yè)。公司擁有一支專業(yè)從事顯微儀器應(yīng)用技術(shù)研究,新產(chǎn)品新技術(shù)開發(fā)的工程技術(shù)團(tuán)隊,在傳統(tǒng)光學(xué)顯微成像技術(shù)上融入了攝像計算機(jī)分析系統(tǒng),不斷開發(fā)出能滿足科研教學(xué)、機(jī)械制造、電子材料、紡織纖維、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、航空航天、計量科學(xué)、軍事、農(nóng)林牧漁等幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行研究分析的新產(chǎn)品和新技術(shù)。 隨著公司的不斷發(fā)展,公司的規(guī)模也不斷壯大,并且在北京和天津設(shè)立了分公司。目前公司已擁有自主品牌的四個產(chǎn)品系列,顯微鏡,顯微熔點儀,顯微專用攝像頭,顯微圖像分析系統(tǒng)。并且還與多家廠商保持了良好的合作關(guān)系,為客戶提供一整套包括金相制樣設(shè)備,硬度計,工具顯微鏡等實驗室產(chǎn)品的完整解決方案。上海金相,上海尚材,上海光學(xué)儀器五廠,六廠均在我公司北京和天津的分公司設(shè)立辦事處。憑借強(qiáng)大的銷售隊伍和技術(shù)團(tuán)隊為上述合作廠家提供華北地區(qū)的產(chǎn)品推廣、技術(shù)支持和售后服務(wù)。公司秉承“技術(shù)引導(dǎo)潮流,質(zhì)量打造品牌”的企業(yè)宗旨,始終堅持“用戶至上,客戶滿意”的經(jīng)營理念,組建團(tuán)隊、采用技術(shù)、開發(fā)產(chǎn)品、推行服務(wù)。深信以誠相待是事業(yè)成功的保障,互惠互利是連接我們的紐帶,上海蒲柘將與社會各界朋友攜手并進(jìn),共創(chuàng)美好的未來!
偏光顯微鏡
產(chǎn)品概述原子力顯微鏡PZ-1000AFM采用掃描探頭和樣品臺集成一體的光機(jī)電一體化設(shè)計
原子力顯微鏡PZ-1000 AFM 產(chǎn)品信息

原子力顯微鏡PZ-1000 AFM采用掃描探頭和樣品臺集成一體的光機(jī)電一體化設(shè)計。高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器可根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇,彈簧懸掛式防震方式的結(jié)構(gòu)簡單實用,抗力強(qiáng)。
一、主要功能特點
硬件系統(tǒng)
1、主機(jī)與控制箱分開,外形結(jié)構(gòu)簡單;
2、掃描探頭和樣品臺集成一體,抗力強(qiáng);
3、精密激光定位裝置,使用時無需調(diào)節(jié)光斑位置;
4、采用精密探針定位模塊,更換探針簡單方便;
5、采用樣品趨近探針方式,使針尖垂直于樣品掃描;
6、伺服馬達(dá)手動或自動脈沖控制,驅(qū)動樣品垂直接近探針,實現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位;
7、高精度大范圍的樣品移動裝置,可自由移動感興趣的樣品掃描區(qū)域;
8、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇;
9、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇;
10、模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計,便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù);
11、集成多種掃描工作模式控制電路,配合軟件系統(tǒng)使用;
12、彈簧懸掛式防震方式,簡單實用,抗力強(qiáng)。
軟件系統(tǒng)
1、可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×512;
2、多通道圖像同步采集顯示,實時查看剖面圖;
3、可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能,任意選擇感興趣的樣品區(qū)域;
4、可任意選擇樣品起始掃描角度;
5、激光光斑檢測系統(tǒng)的實時調(diào)整功能;
6、可任意定義掃描圖像的色板功能;
7、支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能;
8、支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動校正;
9、支持樣品圖片離線分析與處理功能。

序號 名  稱 參  數(shù)
01 工作模式

接觸、摩擦力(可選配輕敲、相位、磁力、靜電力)

02 樣品尺寸 Φ≤90mm;H≤20mm
03 掃描范圍 橫向20um,縱向2um
04 掃描分辨率 橫向0.2nm,縱向0.05nm
05 掃描速率 0.6Hz~4.34Hz
06 掃描控制 XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A
07 數(shù)據(jù)采樣 14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
08 掃描角度 任意
09 樣品移動范圍 0~20mm
10 馬達(dá)趨近脈沖寬度 10±2ms
11 光學(xué)放大倍數(shù) 4X
12

光學(xué)分辨率

2.5um
13 圖像采樣點 256×256,512×512
14 反饋方式 DSP數(shù)字反饋
15 反饋采樣速率 64.0KHz
16 計算機(jī)接口 USB2.0
17 運行環(huán)境 運行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統(tǒng)
關(guān)鍵詞:顯微鏡 控制器
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