LAP-S2000采用分體式設(shè)計(jì)，適用范圍更加寬泛。性能更加穩(wěn)定、量程更大、適應(yīng)各種復(fù)雜的測(cè)試環(huán)境，同時(shí)LAP-S2000進(jìn)行了防塵處理。
LAP-S2000噴霧激光粒度分析儀主要性能特點(diǎn)：
LAP-S2000采用了分體式結(jié)構(gòu)，可測(cè)試遠(yuǎn)距離樣品， LAP-S2000采用了大平臺(tái)，即使一體式使用也能滿足0.1米到10米的距離上正常測(cè)試。
的光路設(shè)計(jì)： LAP-S2000采用了夫瑯禾費(fèi)衍射原理和典型的平行光路設(shè)計(jì)，配備了大功率的半導(dǎo)體激光器；的高密度探測(cè)單元，讓LAP-S2000擁有了的小顆粒測(cè)試能力，LAP-S2000在1μm～2000μm內(nèi)無(wú)縫測(cè)試。同時(shí)LAP-S2000又加入了光路自動(dòng)調(diào)整裝置，方便操作的同時(shí)又延長(zhǎng)了儀器的適用壽命。
大功率半導(dǎo)體激光器：LAP-S2000采用了大功率的半導(dǎo)體激光器，增強(qiáng)了儀器的分辨能力，使小顆粒也無(wú)處藏身。
光路自動(dòng)校對(duì)：LAP-S2000在噴霧粒度儀中加入了自動(dòng)對(duì)中功能，LAP-S2000加入的光路自動(dòng)調(diào)整系統(tǒng)，保證了儀器測(cè)量的穩(wěn)定性、準(zhǔn)確性。同時(shí)大量減少操作者的工作強(qiáng)度。
進(jìn)頭：LAP-S2000采用了日本佳能作為主鏡頭，畸變小成像高，接收端采用了直徑150毫米大口徑長(zhǎng)焦距鏡頭，顆粒探測(cè)更加精準(zhǔn)。
超寬量程：LAP-S2000量程達(dá)到了1μm～2000μm。
輔光定位：LAP-S2000加入了輔光定位功能，定位時(shí)發(fā)射端兩束激光同時(shí)發(fā)出，接收端雙點(diǎn)吻合后接收端即可啟動(dòng)光路自動(dòng)調(diào)整系統(tǒng)，大大簡(jiǎn)化了調(diào)整難度。
強(qiáng)大的分析軟件：強(qiáng)大的分析軟件可以隨時(shí)記錄所有激光束的內(nèi)所有霧滴的粒度分布。在激光束內(nèi)移動(dòng)噴霧測(cè)試結(jié)果可以被連續(xù)記錄和統(tǒng)計(jì)分析。
主要技術(shù)參數(shù)：
| 規(guī)格型號(hào) | LAP-S2000 | |
| 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008 | |
| 測(cè)試范圍 | 1μm-2000μm | |
| 探測(cè)器通道數(shù) | 86 | |
| 準(zhǔn)確性誤差 | <1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值） | |
| 重復(fù)性誤差 | <1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值） | |
| 進(jìn)樣方式 | 開放式 | |
| 光路對(duì)中方式 | 自動(dòng)對(duì)中，儀器自動(dòng)調(diào)整光路，電腦軟件一鍵自動(dòng)完成 | |
| 操作模式 | 軟件操作、自動(dòng)測(cè)試 | |
| 儀器結(jié)構(gòu) | 分體式或?qū)к壥娇蛇x | |
| 分體式導(dǎo)軌（選配） | 分體式儀器，測(cè)試區(qū)域在6米以內(nèi)可以選配導(dǎo)軌，光路更加穩(wěn)定 | |
| 激光器參數(shù) | LD泵浦激光器 λ= 532nm, 功率1-40mw可調(diào) | |
| 關(guān)鍵參數(shù) | 測(cè)量區(qū) | 分體式：儀器0.1到10米范圍可正常測(cè)試 |
| 導(dǎo)軌式：儀器0.1到6米范圍可正常測(cè)試 | ||
| 鏡頭 | 進(jìn)口佳能高性能鏡頭 | |
| 鏡頭保護(hù) | 氣幕氣流式雙重保護(hù) | |
| 進(jìn)樣方式 | 噴射（包含霧滴和固體粉末） | |
| 操作模式 | 電腦操作 | |
| 尺寸 | 發(fā)射端尺寸：950*320*670 接收端尺寸：250*360*520 | |
| 測(cè)試速度 | <1min/次 | |
| 重量 | 25Kg | |
| 軟件功能 | |
| 分析模式 | 包括自由分布、R-R分布和對(duì)數(shù)正態(tài)分布、按目分級(jí)統(tǒng)計(jì)模式等，滿足不同行業(yè)對(duì)被測(cè)樣品粒度統(tǒng)計(jì)方式的不同要求 |
| 統(tǒng)計(jì)方式 | 體積分布和數(shù)量分布，以滿足不同行業(yè)對(duì)于粒度分布的不同統(tǒng)計(jì)方式 |
| 統(tǒng)計(jì)比較 | 可針對(duì)多條測(cè)試結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)比較分析，可明顯對(duì)比不同批次樣品、加工前后樣品以及不同時(shí)間測(cè)試結(jié)果的差異，對(duì)工業(yè)原料質(zhì)量控制具有很強(qiáng)的實(shí)際意義 |
| 自行DIY | 用戶自定義要顯示的數(shù)據(jù)，根據(jù)粒徑求百分比、根據(jù)百分比求粒徑或根據(jù) |
| 顯示模板 | 粒徑區(qū)間求百分比，以滿足不同行業(yè)對(duì)粒度測(cè)試的表征方式。徑距、一致性、區(qū)間累積等等 |
| 測(cè)試報(bào)告 | 測(cè)試報(bào)告可導(dǎo)出Word、Excel、圖片（Bmp）和文本（Text）等多種形式的文檔，滿足在任何場(chǎng)合下查看測(cè)試報(bào)告以及科研文章中引用測(cè)試結(jié)果 |
| 多語(yǔ)言支持 | 中英文語(yǔ)言界面支持，還可根據(jù)用戶要求嵌入其他語(yǔ)言界面。 |
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