電容物位計
一、概 述
美國CHAVEZ查韋斯電容物位計系引進(jìn)制造工藝生產(chǎn)的物位測量產(chǎn)品。它使復(fù)雜的物位測量如高溫、高壓、真空、強(qiáng)腐蝕等介質(zhì)的物位測量變得容易而簡單。經(jīng)過不斷地的堅持和實踐,以射頻電容的物位測量系統(tǒng)日臻完善,現(xiàn)已開發(fā)利用并生產(chǎn)出能夠不同要求的如污水、污油、油水界面、固體顆粒等的物位測量產(chǎn)品。
二、主要特點
應(yīng)用射頻電容,從根本上解決了溫度、濕度、壓力、物體的導(dǎo)電性等因素對測量過程的影響,因而具有抗干擾性;
能夠測量強(qiáng)腐蝕性的液體和固體顆粒,如酸、堿、鹽、水、污水等液體和化工原料、飼料、糧食、煤灰、水泥、面粉等粉狀或顆粒狀固體。
高溫高壓測量:過程溫度25~+220℃;過程壓力-0.1~4.0MPa 。
現(xiàn)場定標(biāo)為用戶投用產(chǎn)品提供了便利。
HART通訊用手操器可遠(yuǎn)程調(diào)校
三、技術(shù)參數(shù)
◆ 電容物位儀表:兩線制,Hart,液晶顯示;
◆ 測量方式:射頻電容;
◆電 源:24VDC±10%
◆輸 出:4~20mADC
◆ 精 度:0.5%(4~20mA)
◆環(huán)境溫度:-25~+70℃
◆ 環(huán)境濕度:0-95%RH
◆介質(zhì)溫度:-25~+220℃
◆過程壓力:-0.1~4.0MPa
◆ 測量范圍:0-5000PF
◆防爆標(biāo)志:Ex(ia)Ⅱ CT4
◆外 殼:鋁合金隔爆型,可用于潮濕、有酸氣等腐蝕環(huán)境
◆探 極:可采用任一種剛性或柔性探極