日本HORIBA nanoPartica SZ-100V2 納米粒度及Zeta電位分析儀

粒徑測量范圍0.3 nm ~ 10 µm

SZ-100V2 系列采用動態(tài)光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實(shí)現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量，該系列可準(zhǔn)確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品?？墒褂檬惺鄣臉悠烦?，也可實(shí)現(xiàn)對小體積樣品的測量。

Zeta 電位測量范圍– 500 ~ + 500 mV

使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預(yù)測和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定，這對于產(chǎn)品配方的研究工作具有重大的意義。

分子量測量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da

通過測量不同濃度下的靜態(tài)光散射強(qiáng)度并通過德拜記點(diǎn)法計(jì)算樣品的分子量 (Mw) 和第二維里系數(shù) (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的復(fù)雜信息處理能力和學(xué)習(xí)能力，可快速確定納米顆粒的特性！

• SZ-100V2 系列具有雙光路設(shè)計(jì)，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)、聚合物等。

• 使用單臺設(shè)備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量

• HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。

• HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。

SZ-100-S2 測量規(guī)格

*1：Mark-Howink-Sakurada 方程，取決于樣本。
*2：取決于樣品。
*3：F 微型電池。

SZ-100-Z2 測量規(guī)格（粒度和分子量測量規(guī)格與 SZ-100-S2 相同。）

*4：取決于樣品。
*5：推薦的樣品電導(dǎo)率范圍：0 到 2 S/m。
*6：取決于樣品。

儀器規(guī)格（SZ-100-S2 和 SZ-100-Z2）

尺寸（毫米）

附件

粒徑測量樣品池

Zeta電位樣品池

用于水相測量的石墨電極電位樣品池， 每盒20個，每個樣品池體積為 100 µL。

有機(jī)溶劑電位樣品池，體積為100 µL