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Keithley 2502 光纖校準光電二極管計

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱深圳市世家儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號2502
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2023/12/3 18:57:27
  • 訪問次數(shù)112
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深圳市世家儀器有限公司是國內(nèi)儀器儀表行業(yè)中的產(chǎn)品代理商、系統(tǒng)集成商、綜合服務商之一。本公司建立了覆蓋華北、東北、華東,完善的銷售和服務網(wǎng)絡。世家儀器主要經(jīng)營的品牌有Keysight安捷倫、美國泰克Tektronix、美國福祿克Fluke、吉時利 等眾多儀器品牌。主要銷售信號發(fā)生器、LCR測試儀、示波器、電源、頻率計、功率計、音頻分析儀等高頻儀器儀表。其客戶遍及高等院校、科研院所、電子制造業(yè)等行業(yè)。能夠根據(jù)客戶的使用需求,為客戶提供各種針對行業(yè)應用的完整測試解決方案,同時可以為國內(nèi)客戶提供國際通行的電子測試儀器租賃解決方案。世家儀器已成為集電子儀器銷售、維修、租賃為一體的綜合服務商。世家儀器倫秉承“誠信,用戶至上”的原則,以科技鑄就品牌、以品質(zhì)開拓市場的理念,竭誠為海內(nèi)外客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務。為客戶提供“更經(jīng)濟豐富的產(chǎn)品選擇、更有效全面的專業(yè)服務”。世家儀器倫秉承“誠信,用戶至上”的原則,以科技鑄就品牌、以品質(zhì)開拓市場的理念,竭誠為海內(nèi)外客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務。為客戶提供“更經(jīng)濟豐富的產(chǎn)品選擇、更有效全面的專業(yè)服務”。
TDS計
專門針對激光二極管模塊(LDM)的生產(chǎn)測試而設計的,極大增強了吉時利LIV(光-電流-電壓)測試系統(tǒng)的產(chǎn)能。這款產(chǎn)品是與的LDM制造商的密切合作下,針對光纖通信網(wǎng)絡而研發(fā)的,這款雙通道儀器的特點在于能夠與其他系統(tǒng)元件輕松同步,實現(xiàn)對光功率測量的密切控制
Keithley 2502 光纖校準光電二極管計 產(chǎn)品信息
  • 2502型光電二極管計是專門針對激光二極管模塊(LDM)的生產(chǎn)測試而設計的,極大增強了吉時利LIV(光-電流-電壓)測試系統(tǒng)的產(chǎn)能。這款產(chǎn)品是與的LDM制造商的密切合作下,針對光纖通信網(wǎng)絡而研發(fā)的,這款雙通道儀器的特點在于能夠與其他系統(tǒng)元件輕松同步,實現(xiàn)對光功率測量的密切控制。2502具有高速模擬輸出端口,從而在LDM制造過程的光纖校準階段支持LIV測試系統(tǒng)的使用。通過使用緩沖存儲器和吉時利儀器的Trigger Link接口,2502能夠為用戶提供當前激光二極管模塊LIV測試的產(chǎn)能。這些儀器的設計,極大地滿足了二十四小時生產(chǎn)環(huán)境下連續(xù)工作對可靠性和可重復性的要求。

    雙通道儀表,用于光功率測量
    光電探測器電壓偏置性能±100V
    1fA~20mA的光電探測器電流測量能力
    1fA暗電流測量分辨率
    與2500INT積分球配合實用可以直接測量光功率
    針對高分辨率光功率反饋的0~10V模擬輸出范圍
    高精度、高速的光纖校準方案
    提供裝配工藝、最終測試、部件binning和技術規(guī)范
    在激光二極管的發(fā)光區(qū)域內(nèi)實現(xiàn)快速的光纖校準
    光纖校準和器件特征分析過程的結(jié)合
    每通道具3000點緩沖存儲,支持測試完成后的數(shù)據(jù)傳輸
    針對binning和掃描測試操作的數(shù)字I/O和Trigger Link
    IEEE-488和RS-232接口


    特點

    優(yōu)勢

    主動溫度控制防止溫度變化可能引起激光二極管主輸出波長發(fā)生變化,導致出現(xiàn)信號重疊和串擾問題。
    50W TEC 控制器比其他低功耗解決方案提供更高的測試速度和更寬的溫度設定值范圍。
    全數(shù)字 P-I-D 控制提供更高的溫度穩(wěn)定性,并可通過簡單的固件變化輕松升級。
    適用于熱控制環(huán)路的自動調(diào)諧功能 (2510-AT)無需反復試驗即可確定 P、I 和 D 系數(shù)的組合。
    寬溫度設定值范圍(–50°C 至 +225°C)以及高設定值分辨率 (±0.001°C) 和穩(wěn)定性 (±0.005°C)能夠滿足大部分冷卻光學元器件和子裝配件生產(chǎn)測試的測試要求。
    兼容于多種溫度傳感器輸入 — 熱敏電阻、RTD 和 IC 傳感器適合于各類激光二極管模塊的溫度傳感器類型。
    交流歐姆測量功能驗證 TEC 器件的完整性。
    適用于熱反饋元件的四線開路/短路引線檢測消除引線電阻測量值誤差,減少假故障或設備損壞的可能性。

    型號

    型號通道電流源/量程電壓源/量程電源測量分辨率(電流/電壓)
    2510
    15A10V50 W-
    2510-AT
    15A10V50 W-
    2502
    220mA100V2 W1fA
    2520
    15A10V50 W700nA / 0.33mV


  • Model 2502 photodiode meter is specially designed for the production test of laser diode module, which greatly increases the production capacity of the Kishli Liv (optical-current-voltage) test system. Developed in close collaboration with leading LDM manufacturers for optical fiber communications networks, the dual-channel instrument features easy synchronization with other system components. The close control of optical power measurement .2502 has a high-speed analog output port, which supports the use of LIV test system in the optical fiber calibration phase of the LDM manufacturing process. By using the buffer memory and the Trigger Link interface specific to the Hirschley instrument, the Trigger Link 2502 can provide users with the maximum capacity of the current laser diode module LIV test. The design of these instruments greatly meets the requirements of reliability and repeatability for continuous operation in 24 hours production environment.

    Dual channel instrument for optical power measurement;

    Voltage bias of photodetector ±100V

    The current measurement ability of 1fA~20mA photodetector;

    1fA dark current measurement resolution

    The optical power can be directly measured with the 2500INT integrating sphere.

    Simulation output range of 0 ~ 10V for high-resolution optical power feedback;

    High precision, high speed optical fiber calibration scheme;

    Provides assembly process, final testing, component binning and technical specifications

    Fast optical fiber calibration is realized in the optimal luminous region of laser diode.

    The combination of optical fiber calibration and device feature analysis;

    Each channel has 3000 points buffer storage to support the data transmission after the completion of the test;

    Digital I / O and Trigger Link;

    for binning and scan test operations IEEE-488 and RS-232 interface


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