| 2520/KIT1型脈沖激光二極管測試套件（包含2520、2520INT和長度為3英尺的三同軸電纜） | ||
| 型號: 2520/KIT1 | ||
| 2520脈沖式激光二極管測試系統(tǒng)是一款用于激光二極管制造工藝流程早期測試的綜合同步測試系統(tǒng)，尤其是當無法輕易實現(xiàn)合適的溫度控制時。2520在一臺緊湊的半機架式儀器中，提供了激光二極管脈沖測試與連續(xù)LIV（光-電流-電壓）測試所需的全部源與測量功能。源與測量的緊密同步確保了較高的測量精度，能夠?qū)?00ns的最小脈寬進行測試。 | ||
主要特點及優(yōu)點附件/模塊應用
在封裝或主動溫度控制之前簡化了激光二極管LIV測試
芯片(chip)或棒料(bar) 階段的激光二極管LIV生產(chǎn)測試的綜合解決方案
可通過編程將掃描（sweep）停在光功率極限上
針對脈沖與DC測試的高精度源與測量性能的結(jié)合
基于同步DSP的測量通道確保了高精度的光強度與電壓測量
脈寬從 500ns～5ms，占空比可達4%的可編程脈沖
脈沖模式電流可達5A，直流模式可達1A
三個測量通道14位的測量精度（VF、前光電二極管、后光電二極管）
測量算法增強了脈沖測量的信噪比
緩沖存儲器高達1000點的掃描存儲能力，消除了測試過程的GPIB流量，增大了測試產(chǎn)能
數(shù)字I/O binning與handling操作
IEEE-488 與 RS-232 接口
特點 | 優(yōu)勢 |
| 主動溫度控制 | 防止溫度變化可能引起激光二極管主輸出波長發(fā)生變化，導致出現(xiàn)信號重疊和串擾問題。 |
| 50W TEC 控制器 | 比其他低功耗解決方案提供更高的測試速度和更寬的溫度設(shè)定值范圍。 |
| 全數(shù)字 P-I-D 控制 | 提供更高的溫度穩(wěn)定性，并可通過簡單的固件變化輕松升級。 |
| 適用于熱控制環(huán)路的自動調(diào)諧功能 (2510-AT) | 無需反復試驗即可確定 P、I 和 D 系數(shù)的組合。 |
| 寬溫度設(shè)定值范圍（–50°C 至 +225°C）以及高設(shè)定值分辨率 (±0.001°C) 和穩(wěn)定性 (±0.005°C) | 能夠滿足大部分冷卻光學元器件和子裝配件生產(chǎn)測試的測試要求。 |
| 兼容于多種溫度傳感器輸入 — 熱敏電阻、RTD 和 IC 傳感器 | 適合于各類激光二極管模塊的溫度傳感器類型。 |
| 交流歐姆測量功能 | 驗證 TEC 器件的完整性。 |
| 適用于熱反饋元件的四線開路/短路引線檢測 | 消除引線電阻測量值誤差，減少假故障或設(shè)備損壞的可能性。 |
型號
| 型號 | 通道 | 電流源/量程 | 電壓源/量程 | 電源 | 測量分辨率（電流/電壓） |
|---|---|---|---|---|---|
| 2510 | 1 | 5A | 10V | 50 W | - |
| 2510-AT | 1 | 5A | 10V | 50 W | - |
| 2502 | 2 | 20mA | 100V | 2 W | 1fA |
| 2520 | 1 | 5A | 10V | 50 W | 700nA / 0.33mV |
The pulse laser diode test system is an integrated synchronous test system for the early testing of laser diode manufacturing process flow , especially when the proper temperature control cannot be easily achieved . In a compact semi - frame instrument , the full source and measurement functions required for the laser diode pulse test and the continuous LIV ( light - current - voltage ) test are provided . The tight synchronization between the source and the measurement ensures higher measurement accuracy and can test the minimum pulse width of 500ns .
Main features and advantages Annex / Module applications:
The laser diode LIV test is simplified before packaging or active temperature control;
A comprehensive solution for LIV production testing of laser diodes in the chip or bar stage;
Scanning can be programmed to stop on the optical power limit;
Perfect combination of high precision source and measurement performance for pulse and DC measurement;
The measurement channel based on synchronous DSP ensures high precision measurement of light intensity and voltage.
The pulse width is from 500 nm to 5 Ms, and the duty cycle is up to 4% programmable pulse.
Pulse mode current can reach 5A, DC mode can reach 1A;
The measuring accuracy of 14 bits of three measuring channels is VF, front photodiode, rear photodiode;
The signal to noise ratio (SNR) of pulse measurement is enhanced by the measurement algorithm.
The scan storage capacity of buffer memory is up to 1000 points, which eliminates the GPIB flow in the test process and increases the test capacity.
Digital I / O binning and handling operation;
Interface between IEEE-488 and RS-232;
采購中心
