用途：冷熱沖擊試驗箱·高低溫沖擊試驗箱，適用于電子、汽車配件、塑膠等行業(yè)，測試各種材料對高、低溫的反復沖擊能力。檢測產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學變化或物理傷害，確保產(chǎn)品的品質。用來測試材料結構或復合材料，在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。
冷熱沖擊試驗箱特點：
◆產(chǎn)品外形美觀、結構合理、工藝、選材考究，具有簡單便利的操作性能和可靠的設備性能。
◆采用采用的計測裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機觸控對話式LCD人機接口控制器,操作簡單, 學習容易, 穩(wěn)定可靠,中，英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設定程序曲線。
◆設備分為高溫箱,低溫箱,測試箱三部分,采之斷熱結構及蓄熱蓄冷效果，試驗時待測物靜止，應用冷熱風路切換方式將冷,熱溫度導入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的.
◆具96個試驗規(guī)范獨立設定,沖擊時間999小時59分鐘, 循環(huán)周期1~999次可設定, 可實現(xiàn)制冷機自動運轉，大程度上實現(xiàn)自動化，減輕操作人員工作量，可在任意時間自動啟動﹑停止工作運行；
◆可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時,可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進行沖擊之功能，具備高低溫試驗機的功能。
◆具備全自動，高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作，有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動演算控制,溫度控制精度高.
◆科學的空氣流通循環(huán)設計，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角;完備的安全保護裝置，避免了任何可能發(fā)生安全隱患，保證設備的長期可靠性
◆可設定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動（手動） 除霜.
◆出風口于回風口感知器檢測控制，風門機構切換時間為10秒內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復時間為5分鐘內(nèi)完成。
◆運轉中狀態(tài)顯示及曲線顯示,發(fā)生異常狀況時,螢幕上即刻自動顯示故障點及原因和提供排除故障的方法,并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時,具有緊急停機裝置。
◆冷凍系統(tǒng)采用復迭高效低溫回路系統(tǒng)設計，冷凍機組采用歐美壓縮機，并采用對臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保（HFC）制冷劑R404A，R23.
◆箱體內(nèi)外部材質采用不銹鋼板（SUS#304）,外部材質有種不同外箱材質可供選擇:
1.順著紋路擦拭，可使機器長時間保持嶄新的外觀（推薦此種選擇）
2.特殊防銹處理鋼板靜電噴涂表面，質地上等（依客戶要求）
每個產(chǎn)品都根據(jù)客戶的要求訂做，保證了設備的高效節(jié)能，并在現(xiàn)場調(diào)試和驗收，保證用戶方的使用性能。
◆箱體左側具一直徑50mm之測試孔，可供外加電源負載配線測試部件。
冷熱沖擊試驗箱，冷熱沖擊箱主要技術指標:
溫度范圍：
高溫箱： +60℃～200℃
低溫箱： 0℃～-70℃
溫度波動度：±0.5℃
溫度均勻：±2℃;
升溫速率：≤5℃/min
降溫速率：≤5℃/min
預冷下限溫度：≤-70℃;
溫度范圍：F:-40~+150 ℃ X:-55~+150℃ S:-60~+150℃
電源：380V±10﹪ 50Hz
冷熱沖擊測試箱，冷熱沖擊箱產(chǎn)品型號及技術參數(shù)：（W×H×D） （mm）
HL-TS3-50SUW 內(nèi)箱尺寸：350×350×400 外箱尺寸：1560×1750×1440
HL-TS3-80SUW 內(nèi)箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1700×1800×1440
HL-TS3-100SUW 內(nèi)箱尺寸：600×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440
HL-TS3-150SUW 內(nèi)箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540
HL-TS3-150SUW 內(nèi)箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640
HL-TS3-150SUW 內(nèi)箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150
◆安全保護措施:
1、工作室超溫；
2、制冷機超壓；
3、制冷機過載；
4、制冷機油壓；
5、加熱器短路、過載；
6、鼓風電機過載；
7、系統(tǒng)漏電保護；
◆設備使用條件1、環(huán)境溫度：5～28℃
2、環(huán)境濕度：≤85%R?H
3、保證性能的條件：（在下達條件下，保證低可達-85℃）
4、需安裝冷卻量為 10噸的冷卻塔（制冷系統(tǒng)用）
冷熱沖擊測試箱，冷熱沖擊箱滿足標準：
標GJB150.3-86；
標GJB150.4-86；
標GJB150.5-86；
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法
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