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美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱蘇州胤煌精密儀器科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地蘇州市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2024/4/12 11:39:03
  • 訪問(wèn)次數(shù)111
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胤煌科技是一家專注于為醫(yī)藥、半導(dǎo)體及化工材料等行業(yè)提供檢測(cè)分析設(shè)備及技術(shù)服務(wù)的高科技公司,致力于為客戶提供全面、準(zhǔn)確的檢測(cè)分析和解決方案。 胤煌科技以“優(yōu)質(zhì)品質(zhì)、專業(yè)技術(shù)、完善服務(wù)、讓檢測(cè)分析更專業(yè)”為服務(wù)宗旨,以“做好技術(shù),服務(wù)好每一個(gè)客戶,做中國(guó)儀器品牌”為奮斗目標(biāo),不忘初心,砥礪前行。 目前我司自主研發(fā)的MIP系列顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒分析儀、FIPS系列流式動(dòng)態(tài)圖像法粒度儀等產(chǎn)品已經(jīng)在生物醫(yī)藥、半導(dǎo)體及納米材料行業(yè)受到廣泛關(guān)注和認(rèn)可,積累了大量的頭部客戶。 同時(shí),胤煌科技其他在售的理化檢測(cè)設(shè)備如:溶液顏色檢查設(shè)備、澄清度檢查設(shè)備、可見(jiàn)異物檢查設(shè)備、原液納米粒度及zeta電位檢查設(shè)備、CHDF系列納米粒度檢查(毛細(xì)管流體分離技術(shù))設(shè)備等也獲得了客戶的。 我們將繼續(xù)提高公司自身的研發(fā)和服務(wù)質(zhì)量,不斷優(yōu)化和更新產(chǎn)品,用專業(yè)的檢測(cè)分析設(shè)備和服務(wù),為客戶解決實(shí)實(shí)在在的問(wèn)題,為推動(dòng)科學(xué)研究和科技產(chǎn)業(yè)貢獻(xiàn)力量。 胤煌科技期待與您的合作交流!
顯微粒度分析儀
產(chǎn)品參數(shù)美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀
可以測(cè)試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等
美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀 產(chǎn)品信息

產(chǎn)品參數(shù)

美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀
可以測(cè)試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。
對(duì)于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品,也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理,即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。
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產(chǎn)品名稱
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詳情
美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀
ZetaAPS
美國(guó)進(jìn)口
5次
2023-02-21

產(chǎn)品詳情

美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀

Zeta電位測(cè)量方法有哪些?

  Zeta電位又叫電動(dòng)電位或電動(dòng)電勢(shì)(ζ-電位或ζ-電勢(shì)),是指剪切面(Shear Plane)的電位,是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。


  由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周圍的反號(hào)離子,這些反號(hào)離子在兩相界面呈擴(kuò)散狀態(tài)分布而形成擴(kuò)散雙電層。根據(jù)Stern雙電層理論可將雙電層分為兩部分,即Stern層和擴(kuò)散層。當(dāng)分散粒子在外電場(chǎng)的作用下,穩(wěn)定層與擴(kuò)散層發(fā)生相對(duì)移動(dòng)時(shí)的滑動(dòng)面即是剪切面,該處對(duì)遠(yuǎn)離界面的流體中的某點(diǎn)的電位稱為Zeta電位或電動(dòng)電位(ζ-電位)。即Zeta電位是連續(xù)相與附著在分散粒子上的流體穩(wěn)定層之間的電勢(shì)差。它可以通過(guò)電動(dòng)現(xiàn)象直接測(cè)定。


測(cè)量Zeta電位的方法主要有:

 

電泳法-當(dāng)電場(chǎng)施加于電解質(zhì)時(shí),懸浮在電解質(zhì)中的帶電粒子被吸引向相反電荷的電極,作用于粒子的粘性力傾向于對(duì)抗這種運(yùn)動(dòng)。當(dāng)這兩種對(duì)抗力達(dá)到平衡時(shí),粒子以恒定的速度運(yùn)動(dòng),我們一般稱這個(gè)速度通為電泳遷移率。

 

電滲法-單位場(chǎng)強(qiáng)下的液體移動(dòng)速度稱為電滲速度。液體的電滲速度與固液兩相間的ξ電勢(shì)成簡(jiǎn)單的正比關(guān)系,所以可以利用電滲來(lái)測(cè)量ξ電勢(shì),但此法只限于能形成毛細(xì)管或多孔介質(zhì)的材料。

 

流動(dòng)電位法-流動(dòng)電勢(shì)是指當(dāng)電解質(zhì)溶液在一個(gè)帶電荷的絕緣表面流動(dòng)時(shí),表面的雙電層的自由帶電荷粒子將沿著溶液流動(dòng)方向運(yùn)動(dòng),這些帶電荷粒子的運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致下游積累電荷,在上下游之間產(chǎn)生電位差就是流動(dòng)電勢(shì)。

 

超聲電聲法-在膠體溶液兩側(cè)施以電壓,帶點(diǎn)粒子運(yùn)動(dòng)會(huì)產(chǎn)生聲波,測(cè)量所產(chǎn)生的聲波,就可以計(jì)算顆粒的動(dòng)態(tài)遷移率,后通過(guò)計(jì)算得到Zeta電位

 

美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀

典型應(yīng)用:

綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,化學(xué)機(jī)械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無(wú)水體系,油漆成像材料。

主要特點(diǎn):

1)能分析多種分散物的混合體;

2)無(wú)需依賴Double Layer模式,精確地判定等電點(diǎn);

3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;

4)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾;

5)可精確測(cè)量無(wú)水體系;

6)Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù),無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量;

7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測(cè)樣品無(wú)需稀釋,對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量;

8)具有自動(dòng)電位滴定功能;

優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):

1)被測(cè)樣品無(wú)需稀釋;

2)排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾;

3)不需定標(biāo);

4)能分析多種分散物的混合體;

5)高精度;

6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um

美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀

優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):

1)無(wú)需定標(biāo);

2)能測(cè)更寬的粒徑范圍;

3)無(wú)需依賴Double Layer模式

4)無(wú)需依賴( electric surface properties)電表面特牲;

5)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑;

6)可適用于無(wú)水體系;

7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;

優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):

1)無(wú)需稀釋,固合量高達(dá)60%;

2)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾;

3)高精度(±0.1mv);

4)低表面電荷(可低至0. 1mv);

5)electrosmotic flow不影響測(cè)量;

6)對(duì)流(convection)不影響測(cè)量;

7)可精確測(cè)量無(wú)水體系;

 

技術(shù)參數(shù):

1)所檢測(cè)粒徑范圍寬:從5 nm至1000µm;

2)可測(cè)量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減;

3)Zeta電位測(cè)量范圍:+/-500 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑;

5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù));

6)樣品體積:30-230ml;

7)PH范圍:0~14;

8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m

 

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