步入式恒溫恒濕老化箱
產(chǎn)品概述:
本試驗(yàn)箱適用于對產(chǎn)品(整機(jī))、零部件、材料進(jìn)行高溫、低溫、高低溫循環(huán)試驗(yàn),以及恒定濕熱和交變濕熱試驗(yàn)。本試驗(yàn)箱可用于散熱試驗(yàn)樣品和非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)。對于散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn),其散熱功率不能超過試驗(yàn)箱制冷量,因制冷量為動(dòng)態(tài)值,其隨溫度點(diǎn)變化而有所變化,同時(shí),較高也會(huì)因散熱產(chǎn)品帶來熱量須冷卻平衡時(shí)引起凝露而受到影響。
步入式恒溫恒濕老化箱
產(chǎn)品功能特點(diǎn)
觸摸式溫控制器
能量需求管理,大大節(jié)省電力
參照ESPEC控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)的高精度控制器,功能更強(qiáng)大
精準(zhǔn)控制PID,控制精度比同類產(chǎn)品高出5倍
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2006-40℃高低溫實(shí)驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GJB 150.3-1986高溫試驗(yàn)
GJB 150.4-1986低溫試驗(yàn)
IEC 68-2-1試驗(yàn)A;寒冷(GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法)
IEC 68-2-2試驗(yàn)B:干熱(GB/T2423.2-2001試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法)
GB/T2423.1-2001 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法