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韶關高低溫沖擊試驗機

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱廣東宏展科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2024/9/9 8:29:13
  • 訪問次數(shù)47
產(chǎn)品標簽:

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廣東宏展科技有限公司,注冊資本:人民幣壹仟萬元,公司自2005年創(chuàng)立以來，專職于環(huán)境試驗箱及工業(yè)烤箱的生產(chǎn)與研發(fā)，我們在環(huán)境試驗箱及工業(yè)烤箱領域里，不遺余力。是目前我國生產(chǎn)環(huán)境試驗箱及工業(yè)烤箱的重點企業(yè)，是東莞市民營科技企業(yè)、廣東省民營科技企業(yè)、國家*。宏展以‘環(huán)境模擬’為自己的經(jīng)營課題，以「追求*」、「開創(chuàng)新局」為使命。積累了更多的專業(yè)經(jīng)驗與技術，在制程方面不斷的開發(fā)更*的環(huán)境試驗箱及工業(yè)烤箱產(chǎn)品，以自主性技術及優(yōu)良的制程站穩(wěn)市場。 在「質(zhì)」與「值」的堅持，我們從不妥協(xié)！ 
宏展為自己能夠為世界范圍內(nèi)的用戶設計、制造*的環(huán)境試驗箱及工業(yè)烤箱而自豪。產(chǎn)品包括紫外光加速老化試驗機、可程式恒溫恒濕試驗機、可程式恒溫試驗機、桌上型恒溫恒濕試驗機、步入式恒溫恒濕試驗室、冷熱沖擊試驗機、高溫老化房、紫外光耐氣候試驗箱、低溫試驗箱、小型低溫試驗箱、超低溫實驗箱、高低溫試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、低溫恒溫恒濕試驗箱、高低溫交變濕熱試驗箱、高低溫試驗箱、高低溫交變濕熱試驗箱、溫度沖擊試驗箱、快速溫度變化試驗箱、步入式環(huán)境試驗室、溫濕度試驗箱、小型環(huán)境試驗箱、臺式濕熱試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、步入式高低溫交變濕熱試驗室、鹽霧試驗箱、標準高溫試驗箱、小型高溫試驗箱、真空高溫試驗箱、無塵高溫試驗箱、防爆型高溫試驗箱、超高溫試驗箱、厭氧型高溫試驗箱、熱老化高溫試驗箱、精密熱風循環(huán)烤箱、無氧化熱風循環(huán)烤箱、無塵熱風循環(huán)烤箱，高溫工業(yè)烤箱等系列產(chǎn)品。 
    廣東宏展科技有限公司還是一家業(yè)務涉及領域非常廣闊的大型跨國企業(yè)集團，為用戶提供產(chǎn)品和材料技術方面廣泛、多元化的技術服務，其涉及領域包括炭材料加工和制陶技術、環(huán)境工程和空調(diào)、金屬燒結(jié)技術、超聲波和琺瑯工程等等。旗下包括：HONGZHANH宏展；HORNGJAAN；Q8；JEIOTECH；LabCompanion；CHUNYEN；ThermoTest；NABERTHERM；Climats克萊梅；TestNavi;品牌及香港科學儀器有限公司；北京宏展；東莞宏展；昆山宏展；重慶宏展；西安宏展；武漢宏展；長沙宏展等8家子公司。
    宏展經(jīng)過多年的努力，產(chǎn)品已廣范應用于汽車制造、航空航天、電子通訊、醫(yī)療衛(wèi)生和石油化工、*制造及科研院校等眾多領域。宏展也已成為中國環(huán)境試驗設備行業(yè)潮流的杰出*，產(chǎn)品獲得了賽寶實驗室、中國計量測試中心、中國*、*、北京博物館、清華大學、浙江大學、湖南大學、國防科技大學、中南大學、四川大學、華南理工、上海交大、西安交大、吉林大學、哈爾濱工業(yè)大學、南京大學、河海大學、富士康科技、一汽大眾、光聯(lián)通訊、阿爾卡特、金立通訊、廣博集團、施耐德、蘇泊爾、華為技術、艾默生、格力電器、雅圖仕、嘉寶莉……等客戶的好評。  
    地球*停止的運轉(zhuǎn)，即在提供萬物生存之環(huán)境，宏展兢兢業(yè)業(yè)的經(jīng)營，目的在為企業(yè)創(chuàng)造永續(xù)經(jīng)營的空間，更深信*企業(yè)永續(xù)經(jīng)營之道在于以顧客*的服務態(tài)度，滿足顧客需求，并重視人才、技術與教育之培育，同心協(xié)力積極進取謀求顧客、代理商及全體員工之共存共榮。

恒溫恒濕、冷熱沖擊、鹽霧試驗、紫外線老化
TS系列韶關高低溫沖擊試驗機設備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設計- 確保了設備的高可靠性
韶關高低溫沖擊試驗機 產(chǎn)品信息

韶關高低溫沖擊試驗機的詳細介紹

TS系列韶關高低溫沖擊試驗機

設備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設計- 確保了設備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui??；
表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環(huán)境保護要求；

可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能

*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~99%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關鍵配件均采用產(chǎn)品，使設備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

設備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
 

型 號

 

 
TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W		TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W		TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W		TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
標稱內(nèi)容積（升）80150200300
試驗方式氣動風門切換2溫室或3溫室方式
性能高溫室預熱溫度范圍＋60～＋200℃
升溫速率※1＋60→＋200℃≤20分鐘
低溫室預冷溫度范圍－78－0℃
降溫速率※1＋20→－75℃≤80分鐘
試驗室溫度偏差±2℃
溫度范圍TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
溫度恢復時間※25分鐘以內(nèi)
試樣擱架承載能力30kg
試樣重量7.5kg7.5kg10kg10kg
內(nèi)部尺寸（mm）W500600750850
H400500500600
D400500600800
外形尺寸（mm）※4W1460156017101880
H1840194019402040
D1500160017001900
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能。
※2恢復條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）


 

型號

 

 

TSL-80-A

TSU-80-W

TSS-80-W

TSL-150-A

TSU-150-W

TSS-150-W

TSL-225-W

TSU-225-W

TSS-225-W

TSL-408-W

TSU-408-W

TSS-408-W

標稱內(nèi)容積（升）

80

150

200

300

試驗方式

氣動風門切換2溫室或3溫室方式

性能

高溫室

預熱溫度范圍

＋60～＋200℃

升溫速率※1

＋60→＋200℃≤20分鐘

低溫室

預冷溫度范圍

－78－0℃

降溫速率※1

＋20→－75℃≤80分鐘

試驗室

溫度偏差

±2℃

溫度范圍

TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;

TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;

TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃

溫度恢復時間※2

5分鐘以內(nèi)

試樣擱架承載能力

30kg

試樣重量

7.5kg

7.5kg

10kg

10kg

內(nèi)部尺寸（mm）

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸（mm）※4

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能。

※2恢復條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）


 冷熱沖擊試驗箱規(guī)格表(Programmable Thermal Shock Tster)

---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加LN2功能

試驗規(guī)范

 駐留溫度(℃)
(exposure temp.)

駐留溫度時間(Min)
(exposure time)

覆歸時間
(recovery time)

 周期
或次數(shù)

試驗起
始點

備注

適用機臺型號
TS-(80/150/225/408)

高溫

室溫

低溫

高溫/低溫

室溫

S

U

L

MIL-STD-883E
(Method 010.7)

+85

+10

----

-55

0

≧10min
≦15min

----

含駐留時間&
轉(zhuǎn)換時間≦15min

zui少
10次

低溫或
高溫

Temperature Cycling
(轉(zhuǎn)換時間<1min)

實驗過程若中斷
超過總實驗之1/10
次則實驗須重做

◎

◎

----

0

+125

+15

◎

◎

----

0

-10

+150

+15

◎

◎

----

0

+150

+15

-65

0

◎

.

----

0

-10

MIL-STD-202F
(Method 07G)

+83

+3

-25

+10

-55

0

28g以下
15～30 Min
28～136g
30Min
136g～1.36Kg
60Min
1.36～13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min

Max.
5 Min

5 Min 以內(nèi)

5 cycle
25
50
100

低溫

Transfer time
不超過5 min

◎

◎

◎

0

-3

+125

+3

-65

0

◎

◎

----

0

-5

-5

+125

+3

-65

0

◎

◎

----

0

-5

JIS C 0025 
IEC 68-2-14
GB 2423.22

+70

+85

+100

+125

±2

±2

±2

±2

室溫

-5

-10

-25

-40

-55

-65

±3
±3
±3
±3
±3
±3

3hr
2hr
1hr
30min
或無定義則
以3hr定義

手動轉(zhuǎn)
移時間
2～3Min

為駐留時間
之1/10

5 cycle
除非有
其它規(guī)格

低溫

Auto 
Transfer time
不超過30 sec
小試件
Transfer time
不超過10 sec

★

★

★

◎

◎

◎

◎

◎

◎

◎

◎

◎

  

◎

◎

◎

  

◎

◎

----

IPC 2.6.7

+70

±2

----

0

+0

15 Min

----

2 Min 以內(nèi)

100 cycle

高溫
(試驗結(jié)束
點在高溫)

Transfer time
不超過2 min

★

★

★

-0

-5

+85

+5

-40

+0

◎

◎

◎

-0

-5

+105

+5

-55

+0

◎

◎

．

-0

-5

+105

+5

-65

+0

．

．

----

-0

-5

+105

+5

  

．

．

----

-0

IPC 2.6.6

+85

+3

-25

+10

-55

+0

30 Min

10-15 
Min

 

5 cycle

  

◎

◎

◎

-0

-5

+125

+3

-5

-65

+0

◎

◎

----

-0

-5

Bellcore
GR-1221-CORE

+70

±2

----

 

≧10min
≦15min

----

含駐留時間
&轉(zhuǎn)換時間≦15min

500 cycle
OR
1000cycle

  

◎

◎

◎

 

+80

±2

◎

◎

◎

 

JESD22
A104-A

+125

+10

 

-40

+0

≦15min

 

含駐留時間
&轉(zhuǎn)換時間≦15min

抽10次
可接受;
1000次
合格

 

Temperature
Cycling
(轉(zhuǎn)換時間<1min)
實驗過程若中斷
超過總實驗之1/10
次則實驗須重做

◎

◎

◎

-0

-10

+85

+10

-55

+0

◎

◎

．

-0

+125

+10

-0

-10

+150

+10

-0

+150

+10

-65

+0

◎

．

----

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