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高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱主要特點(diǎn)

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱廣東艾思荔檢測(cè)儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2024/11/13 11:04:06
  • 訪問(wèn)次數(shù)13
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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    廣東艾思荔檢測(cè)儀器有限公司成立于1988年,多年以來(lái)一直主力經(jīng)營(yíng)可靠性試驗(yàn)設(shè)備,并致力于技術(shù)研究與品質(zhì)改善;配套提供專業(yè)意見、完善的產(chǎn)品、快速的售后服務(wù)。
公司位于東莞市南城,地理位置*、交通及其便捷。數(shù)年來(lái)公司堅(jiān)持致力于產(chǎn)品的
制造、研發(fā)、設(shè)計(jì)和銷售、服務(wù)為一體的生產(chǎn)企業(yè),擁有雄厚的技術(shù)力量、一如既往為客戶提供可靠、質(zhì)優(yōu)價(jià)廉的“環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備”滿足客戶的要求。公司產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于IC、電子、家電、通信、電腦、航空航天、兵器、汽車、線路板、連接器等行業(yè)和領(lǐng)域,成為其縮短開發(fā)周期,提升產(chǎn)品品質(zhì)的*的得力助手。
多年以來(lái),為了能夠撐控更高的產(chǎn)品品質(zhì)、更精密的制造技能、*的管理經(jīng)營(yíng)理念;故
1995年與日本試驗(yàn)設(shè)備制造商進(jìn)行全面合作,不斷開發(fā)新的產(chǎn)品,從而提升市場(chǎng)的競(jìng)爭(zhēng)力;并努力降低制造成本,把其利潤(rùn)回饋給客戶,使其能擁有品質(zhì)優(yōu)良、價(jià)格合理、服務(wù)到位之產(chǎn)品,進(jìn)而達(dá)到雙贏之目的,Z終迎得客戶的信賴與滿意。
公司“ASLi”的商標(biāo)早在北京商標(biāo)局已注冊(cè),依托*的技術(shù),多年的研發(fā)銷售經(jīng)驗(yàn),以*的設(shè)計(jì)理念,可靠的制造工藝,*的檢測(cè)設(shè)備,*的售后服務(wù)贏得了廣大客戶的信賴與和支持。我們通過(guò)不斷的提升品質(zhì),強(qiáng)化管理,完善服務(wù),迅速成為國(guó)內(nèi)*的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)廠家。
我們秉持“持續(xù)改進(jìn),追求*”的經(jīng)營(yíng)理念,“客戶的滿意即是我們努力之所在”的服務(wù)宗旨,愿與新老客戶攜手共創(chuàng)輝煌。

   公司主要生產(chǎn):可程式恒溫恒濕,冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),三綜合振動(dòng),溫度/濕度復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)機(jī),溫度沖擊試驗(yàn)機(jī),沖擊試驗(yàn)臺(tái),步入式老化房,高溫高濕,快速溫變,電磁式高頻振動(dòng),鹽霧試驗(yàn)箱,高低溫試驗(yàn)機(jī),二箱沖擊,雙85試驗(yàn)箱,UV紫外線,沙塵試驗(yàn)機(jī),沖擊碰撞,電腦插拔力,三次元,耐光試驗(yàn),耐水試驗(yàn),蒸氣老化,換氣式老化,破裂強(qiáng)度等系列產(chǎn)品...
  本公司可訂做各種特殊(非標(biāo))要求的可靠性試驗(yàn)設(shè)備機(jī)型。

可程式恒溫恒濕,冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),三綜合振動(dòng),溫度/濕度復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)機(jī),溫度沖擊試驗(yàn)機(jī),沖擊試驗(yàn)臺(tái),步入式老化房,高溫高濕,快速溫變,電磁式高頻振動(dòng)
高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱溫度范圍:溫度范圍:-20~+150℃-40~+150℃-60~+150℃-70~+150℃等不同的級(jí)別試驗(yàn)溫度要求
高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱主要特點(diǎn) 產(chǎn)品信息

    高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱溫度范圍:

    溫度范圍:-20~+150℃-40~+150℃-60~+150℃-70~+150℃等不同的級(jí)別試驗(yàn)溫度要求。

    溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃(可根據(jù)用戶需求提高至0.1℃)

    溫度均勻度:≤±2℃(可根據(jù)用戶需求提高至0.5℃)

    濕度范圍:30%~98%R.H(可按客戶要求定做)

    濕度誤差:≤+2%/-3%R.H

    升溫時(shí)間:2-3℃/min(可根據(jù)用戶需求提高至10℃以上)

    降溫時(shí)間:0.7-1℃/min(可根據(jù)用戶需求提高至10℃以上)

    噪音:(dB)≤65

    高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱主要特點(diǎn)

    1.采用數(shù)控機(jī)床加工成型,造型美觀大方,并采用無(wú)反作用把手,操作簡(jiǎn)便。

    2.箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼(SUS304)鏡面板,具有耐腐蝕,耐酸易清洗特點(diǎn)

    3.箱體外膽采用A3鋼板噴塑,增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。

    4.采用三層真空鍍膜發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃大視野觀察窗,保持清晰,觀察仔細(xì)。

    5.箱體左側(cè)配直徑50mm的測(cè)試孔,可供外接測(cè)試電源線或信號(hào)線使用。

    高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)

    1.日本神港JCD-33A智能數(shù)顯調(diào)節(jié)儀是日本Shinko公司研制的實(shí)用型高性能價(jià)格比智能調(diào)節(jié)儀,儀表的精度等級(jí)為0.3級(jí),采樣周期250ms。具有自由輸入,PID自整定,雙回路輸出,雙設(shè)定值,多種報(bào)警,手動(dòng)輸出等功能。

    自由輸入:用戶通過(guò)操作鍵自由選擇10種熱電偶(K、J、R、S、B、E、T、N、PL-II、C[W/Re5-26])、2種熱電阻(Pt100、JPt100)的輸入類型。

    高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

    GB2423.1—93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

    GB2423.2—93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

    GB2423.3-93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

    用途:本產(chǎn)品適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在復(fù)雜的高、低溫濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)復(fù)雜的高低溫濕熱變化適應(yīng)性試驗(yàn)。

    技術(shù)規(guī)格(注:尺寸可根據(jù)您的要求定制):

    高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱箱體材質(zhì):

    外箱材質(zhì):A3鋼板,表面磷化靜電噴塑

    內(nèi)箱材質(zhì):SUS304不銹鋼2B級(jí)光板

    保溫材質(zhì):超薄超細(xì)玻璃纖維

    門框隔熱:雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條

    高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱用途:

    適用于國(guó)防工業(yè)、兵工業(yè)、自動(dòng)化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑膠、化工業(yè)、食品業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)(沖擊),適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從IC到重機(jī)械的組無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具.

    高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

    GB10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

    GB10589-2006低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

    GB10592-2006高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

    GB11158-2006高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

    GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

    GB/T2423.2-2001試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

    GB/T2423.3-1993試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)

    GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

    GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備


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