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詳細介紹
XPM-212系列地質礦相顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校常用的實驗儀器。作為光學儀器的偏光顯微鏡，其應用范圍也越來越廣闊，許多行業(yè)，如化工的化學纖維，半導體工業(yè)以及藥品檢驗等等，特別是地質勘查行業(yè)?？晒V大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件，是一組具有較完備功能和良好品質的新型產品。偏光顯微鏡是地質勘查資質進行分類分級中重要儀器之一。
標準配置
型號 | |
目鏡 | 大視野 WF10X(Φ18mm) |
刻度目鏡 WF10X(Φ18mm) | |
物鏡 | PL 4X/0.10 |
PL 10X/0.25 | |
PL 25X/0.40 | |
PL 40X/0.65 | |
PL 60X/1.25 | |
載物臺 | 旋轉載物臺，直徑 Φ140mm，可拆卸移動機構，移動范圍：30mmX40mm |
轉換器 | 四孔(轉換器中心可調) |
目鏡筒 | 雙目，轉軸式（傾斜30°）360°旋轉 含檢振片、起振片 |
調焦機構 | 同軸共軌式粗微動調焦，調焦范圍26mm，微動格值 0.002mm |
濾色片 | 藍色，聚光片N.A.=1.30 |
補償器 | 石膏λ片，云母λ/4片，石英契子 |
電光源 | 6V/20W,亮度可調 |
防霉 | 防霉系統 |
選配件
名稱 | 技術參數 |
目鏡 | 16X.20X. |
物鏡 | 80X |
軟件 | 偏光分析軟件 |
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