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直讀光譜儀

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直讀光譜儀

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SPECTROLAB 直讀光譜儀

 

德國(guó)SPECTROLAB M12直讀光譜儀性能特點(diǎn)性能 SPECTROLAB 激發(fā)光源 全數(shù)字化光源, DDD技術(shù),不需輔助間隙,能完成單基體和多基體分析任務(wù)波長(zhǎng)范圍 120-780nm能完成氧氮?dú)涞冗h(yuǎn)紫外元素分析用于各種金屬材料中各種化學(xué)元素的精確成分分析。用于原材料檢驗(yàn),冶煉生產(chǎn)過程成分控制,成品元素成分定值及其它特殊應(yīng)用。最多可配置4個(gè)光學(xué)室,96個(gè)分析通道,可分析氮、氫、氧等氣體元素。ISO,CE證書 通過ISO及CE認(rèn)證。

 

主要特點(diǎn)

  1. 多光學(xué)系統(tǒng)配置,最多可以設(shè)置3個(gè)光學(xué)系統(tǒng)。
  2. 所有元素采用一級(jí)譜線,靈敏度高,光譜干擾小。
  3. 3000型數(shù)字化光源。精度和檢出限明顯改善。無(wú)須輔助電極,免維護(hù)。
  4. 原廠校準(zhǔn)工作曲線,用戶無(wú)須標(biāo)樣制作曲線,隨機(jī)提供德國(guó)SUS校準(zhǔn)標(biāo)樣。
  5. SAFT痕量元素分析技術(shù),使分析靈敏度提高一個(gè)數(shù)量級(jí),可以分析ppm級(jí)元素。激發(fā)光源全數(shù)字 化光源,CDD技術(shù),不需輔助間隙,能完成單基體和多基體分析任務(wù)。

UV-PLUS光學(xué)系統(tǒng)

SPECTROLAB的光學(xué)系統(tǒng)集合了兩種檢測(cè)器的優(yōu)勢(shì):光電倍增管和CCD檢測(cè)器。采用了優(yōu)化的帕邢——龍格架構(gòu),光學(xué)系統(tǒng)的機(jī)械結(jié)構(gòu)異常堅(jiān)固,同時(shí)減少了內(nèi)部空間體積。內(nèi)部恒溫、恒壓確保光學(xué)系統(tǒng)不受外界環(huán)境變化和影響。UV-PLUS技術(shù)用于保障遠(yuǎn)紫外光譜范圍的測(cè)量。密封光室內(nèi)部在儀器出廠前充入高純氬氣,保證遠(yuǎn)紫外光譜的透過率。光室內(nèi)的氬氣由分子薄膜泵驅(qū)動(dòng)循環(huán)至凈化裝置,以保證內(nèi)部氬氣的高純度。

UV-PLUS光學(xué)系統(tǒng)是純凈的,同時(shí)具有杰出的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。系統(tǒng)在120-180nm波段透光效率,運(yùn)行成本很低。

擁有核心技術(shù)的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)與UV-PLUS概念相結(jié)合,M12能夠同時(shí)以高達(dá)9pm的光譜分辨率記錄120-800nm波段的全部一級(jí)光譜圖,奠定了SPECTROLAB杰出分析性能的重要基礎(chǔ)。

等離子發(fā)生器光源

一代等離子發(fā)生器是至今的激發(fā)光源。超穩(wěn)定的能量釋放在氬氣環(huán)境中激發(fā)樣品。全數(shù)字信號(hào)發(fā)生配合全數(shù)字能量輸出,確保激發(fā)區(qū)等離子體能量超高分辨率和高保真輸出。 在標(biāo)準(zhǔn)分析應(yīng)用中18秒內(nèi)可以獲得分析數(shù)據(jù),提高了樣品輸出量和過程控制效率。

火花臺(tái)

M12的火花臺(tái)直接將激發(fā)光導(dǎo)入光學(xué)系統(tǒng)?;鸹ㄅ_(tái)內(nèi)部體積進(jìn)一步縮小,優(yōu)化氬氣流

向設(shè)計(jì)使得氬氣消耗更低,同時(shí)有效移除殘留粉塵。尾氣經(jīng)兩級(jí)過濾系統(tǒng)排出。火花臺(tái)工作維護(hù)量極低。壓桿可以左右移動(dòng),接駁安全電路??梢钥焖俑鼡Q樣品。

適用分析大尺寸異型樣品。特殊設(shè)計(jì)的樣品夾可用于分析棒材、線材和薄片。小樣品專用分析程序提高了 分析精度和準(zhǔn)確性。

分析測(cè)試

斯派克火花光譜儀M12的精致設(shè)計(jì)使用日常維護(hù)和校工作量?jī)x器操作變得非常簡(jiǎn)單。日常分析按一個(gè)鍵就可以完成。配合自動(dòng)制樣設(shè)備,可以實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)大樣品量輸出。集成于Spark Analyzer Vision 軟件包的硬件診斷系統(tǒng),實(shí)時(shí)監(jiān)控和存檔儀器的運(yùn)行狀態(tài)。對(duì)于儀器參數(shù)設(shè)置,數(shù)據(jù)管理,聯(lián)網(wǎng)傳輸,打印和材料牌號(hào)判定等功能,軟件設(shè)計(jì)了簡(jiǎn)單直觀,易懂的操作界面。SQL數(shù)據(jù)庫(kù)格式是數(shù)據(jù)管理軟件的基礎(chǔ)?;谟脩舻姆治鲂枨?,儀器可以定制成十種標(biāo)準(zhǔn)基體的任意組合。

CCD光學(xué)系統(tǒng)可以自由選擇120-800nm范圍內(nèi)的任意譜線用于分析線或參比線。光電管光學(xué)系統(tǒng)最多可設(shè)置108個(gè)高性能光電倍增管。每個(gè)光電管通道都有是一個(gè)微積分器,具有TRS(時(shí)間分解光譜技術(shù))分析痕量元素和SSE(單火花評(píng)估技術(shù))分析元素相態(tài)。事實(shí)上,所有分析要求都可以在M12中無(wú)折衷地實(shí)現(xiàn)。

配備最現(xiàn)代光譜技術(shù)和高質(zhì)量的元器件,SPECTROLAB M12設(shè)計(jì)應(yīng)用于解決各種分析要求。憑借其杰出的性能表現(xiàn)和靈活性,適用于過程控制,質(zhì)量監(jiān)控,材料牌號(hào)判定,材料研究和開發(fā),以及金屬冶煉,加工和回收工業(yè)中的各種分析應(yīng)用。

SPECTROLAB 直讀光譜儀

 

德國(guó)SPECTROLAB M12直讀光譜儀性能特點(diǎn)性能 SPECTROLAB 激發(fā)光源,全數(shù)字化光源, DDD技術(shù),不需輔助間隙,能完成單基體和多基體分析任務(wù)波長(zhǎng)范圍 120-780nm能完成氧氮?dú)涞冗h(yuǎn)紫外元素分析用于各種金屬材料中各種化學(xué)元素的成分分析。用于原材料檢驗(yàn),冶煉生產(chǎn)過程成分控制,成品元素成分定值及其它特殊應(yīng)用。

 

主要特點(diǎn)

  1. 多光學(xué)系統(tǒng)配置,可以設(shè)置3個(gè)光學(xué)系統(tǒng)。
  2. 元素檢測(cè),靈敏度高,光譜干擾小。
  3. 全新3000型數(shù)字化光源。精度和檢出限明顯改善。無(wú)須輔助電極,免維護(hù)。
  4. 原廠校準(zhǔn)工作曲線,用戶無(wú)須標(biāo)樣制作曲線,隨機(jī)提供德國(guó)SUS校準(zhǔn)標(biāo)樣。
  5. SAFT痕量元素分析技術(shù),使分析靈敏度提高一個(gè)數(shù)量級(jí),可以分析ppm級(jí)元素。激發(fā)光源全新全數(shù)字 化光源,CDD技術(shù),不需輔助間隙,能完成單基體和多基體分析任務(wù)。

UV-PLUS光學(xué)系統(tǒng)

SPECTROLAB的光學(xué)系統(tǒng)集合了兩種檢測(cè)器的優(yōu)勢(shì):光電倍增管和CCD檢測(cè)器。采用了優(yōu)化的帕邢——龍格架構(gòu),光學(xué)系統(tǒng)的機(jī)械結(jié)構(gòu)異常堅(jiān)固,同時(shí)減少了內(nèi)部空間體積。內(nèi)部恒溫、恒壓確保光學(xué)系統(tǒng)不受外界環(huán)境變化和影響。UV-PLUS技術(shù)用于保障遠(yuǎn)紫外光譜范圍的測(cè)量。密封光室內(nèi)部在儀器出廠前充入高純氬氣,保證遠(yuǎn)紫外光譜的透過率。光室內(nèi)的氬氣由分子薄膜泵驅(qū)動(dòng)循環(huán)至凈化裝置,以保證內(nèi)部氬氣的純度。

UV-PLUS光學(xué)系統(tǒng)是純凈的,同時(shí)具有杰出的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。系統(tǒng)在120-180nm波段透光效率較好,運(yùn)行成本很低。

擁有核心技術(shù)的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)與UV-PLUS概念相結(jié)合,M12能夠同時(shí)以9pm的光譜分辨率記錄120-800nm波段的全部光譜圖,奠定了SPECTROLAB杰出分析性能的重要基礎(chǔ)。

等離子發(fā)生器光源

新一代等離子發(fā)生器穩(wěn)定的能量釋放在氬氣環(huán)境中激發(fā)樣品。全數(shù)字信號(hào)發(fā)生配合全數(shù)字能量輸出,確保激發(fā)區(qū)等離子體能量分辨率和保真輸出。 在標(biāo)準(zhǔn)分析應(yīng)用中18秒內(nèi)可以獲得分析數(shù)據(jù),提高了樣品輸出量和過程控制效率。

火花臺(tái)

M12的火花臺(tái)直接將激發(fā)光導(dǎo)入光學(xué)系統(tǒng)。火花臺(tái)內(nèi)部體積進(jìn)一步縮小,優(yōu)化氬氣流

向設(shè)計(jì)使得氬氣消耗更低,同時(shí)有效移除殘留粉塵。尾氣經(jīng)兩級(jí)過濾系統(tǒng)排出?;鸹ㄅ_(tái)工作維護(hù)量低。壓桿可以左右移動(dòng),接駁電路??梢钥焖俑鼡Q樣品。

適用分析大尺寸異型樣品。特殊設(shè)計(jì)的樣品夾可用于分析棒材、線材和薄片。小樣品專用分析程序提高了 分析精度和準(zhǔn)確性。

分析測(cè)試

斯派克火花光譜儀M12的精致設(shè)計(jì)使用日常維護(hù)和校準(zhǔn)工作量降到很低,儀器操作變得非常簡(jiǎn)單。日常分析按一個(gè)鍵就可以完成。配合自動(dòng)制樣設(shè)備,可以實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)大樣品量輸出。集成于Spark Analyzer Vision 軟件包的硬件診斷系統(tǒng),實(shí)時(shí)監(jiān)控和存檔儀器的運(yùn)行狀態(tài)。對(duì)于儀器參數(shù)設(shè)置,數(shù)據(jù)管理,聯(lián)網(wǎng)傳輸,打印和材料牌號(hào)判定等功能,軟件設(shè)計(jì)了簡(jiǎn)單直觀,易懂的操作界面。SQL數(shù)據(jù)庫(kù)格式是數(shù)據(jù)管理軟件的基礎(chǔ)?;谟脩舻姆治鲂枨?,儀器可以定制成十種標(biāo)準(zhǔn)基體的任意組合。

CCD光學(xué)系統(tǒng)可以自由選擇120-800nm范圍內(nèi)的任意譜線用于分析線或參比線。光電管光學(xué)系統(tǒng)可設(shè)置108個(gè)高性能光電倍增管。每個(gè)光電管通道都有是一個(gè)微積分器,具有TRS(時(shí)間分解光譜技術(shù))分析痕量元素和SSE(單火花評(píng)估技術(shù))分析元素相態(tài)。事實(shí)上,所有分析要求都可以在M12中無(wú)折衷地實(shí)現(xiàn)。

配備現(xiàn)代光譜技術(shù)和高質(zhì)量的元器件,SPECTROLAB M12設(shè)計(jì)應(yīng)用于解決各種分析要求。憑借其杰出的性能表現(xiàn)和靈活性,適用于過程控制,質(zhì)量監(jiān)控,材料牌號(hào)判定,材料研究和開發(fā),以及金屬冶煉,加工和回收工業(yè)中的各種分析應(yīng)用。

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