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詳細(xì)介紹
產(chǎn)品信息：
在實(shí)際的科研中，由于樣品/晶圓（Wafer）得尺寸越來越大，用于測試的探針臺(tái)相當(dāng)昂貴，我司根據(jù)客戶市場應(yīng)用自主研發(fā)的這款結(jié)構(gòu)小巧，功能實(shí)用，成本較低得TDH系列探針臺(tái)，在滿足基本測試功能基礎(chǔ)上，去除了非必要得部件，該探針臺(tái)系統(tǒng)包含：光學(xué)成像部分，光學(xué)底座，探針座，四維調(diào)整系統(tǒng)，真空吸附系統(tǒng)；
TDH系列探針臺(tái)包含有獨(dú)立的三個(gè)精密探針座，可以配合數(shù)字源表等完成對(duì)三端器件的測試，其可以測試的材料有二極管、晶體管、場效應(yīng)管、晶圓級(jí)器件等等，可以完成對(duì)其的I/V、c/v、電阻、電容等參數(shù)進(jìn)行測試。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
★結(jié)構(gòu)緊湊，功能實(shí)用，質(zhì)量輕巧，方便移動(dòng)
★可用于12寸以內(nèi)樣品測試
★兼容高倍率電子顯微鏡，可360°旋轉(zhuǎn)和微調(diào)升降
★漏電流精度：10pA/50fa（屏蔽箱內(nèi)）
★精密絲杠/燕尾傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，線性移動(dòng)，精密位移，無回程差設(shè)計(jì)
★應(yīng)用于高等院校/研究所/公司實(shí)驗(yàn)室使用
★1微米以上電極/PAD使用
★模塊化設(shè)計(jì)，可以根據(jù)應(yīng)用增加和去除相應(yīng)模塊
產(chǎn)品應(yīng)用：
◆LD/LED/PD的光強(qiáng)/波長測試（集成我司光電儀器）
◆材料/器件的IV/CV等特性分析測試
◆晶圓分析測試
技術(shù)參數(shù)選型：
規(guī)格/參數(shù) | |||||||
型號(hào) | TDH-4 | TDH-6 | TDH-8 | TDH-12 | |||
外形尺寸（LWH） | 450×300×355mm | 600×450×355mm | 600×500×355mm | 600×600×355mm | |||
電力需求 | 220VC,50-60HZ | ||||||
樣品臺(tái) | 尺寸 | 4寸 | 6寸 | 8寸 | 12寸 | ||
行程 | 整體XYZR四維位移，XY行程100mm，Z軸行程13mm，R軸360°旋轉(zhuǎn)可鎖緊 | ||||||
移動(dòng)精度 | 3μm | ||||||
背電極測試功能 | 可以引出電極 | 可以引出電極 | 可以引出電極 | 可以引出電極 | |||
定制模塊 | 可定制位移行程和精度 | ||||||
探針調(diào)整座 | XYZ行程 | 13mm-13mm-13mm | |||||
機(jī)械精度 | 標(biāo)配3μm（可以升級(jí)/1μm） | ||||||
漏電精度 | 100fA（配置屏蔽箱） | ||||||
安裝方式 | 可調(diào)磁力吸附/真空吸附 | ||||||
接口形式 | 三同軸（Triax） | ||||||
光學(xué)成像 | 放大倍數(shù) | 7-200倍（可升級(jí)到720倍） | |||||
CCD像素 | 2000W | ||||||
中心距離 | 140mm，升降范圍270mm，總高度350mm | ||||||
顯示器 | 12寸顯示器，將3-17mm的樣品放大到整個(gè)屏幕（可升級(jí)大尺寸顯微鏡） | ||||||
可選附件 | 加熱卡盤 | 高低溫卡盤 | 鍍金卡盤 | ||||
隔振支架 | 積分球測試選件 | 屏蔽箱 | |||||
射頻測試附件 | 導(dǎo)入光源支架 | 波長單色可調(diào)光纖光源（測光電流） | |||||
顯微鏡調(diào)節(jié)手動(dòng)/電動(dòng)調(diào)節(jié)裝置 | 激光切割顯微鏡 | 轉(zhuǎn)接頭配件 | |||||
創(chuàng)譜儀器可以根據(jù)客戶應(yīng)用搭建探針臺(tái)，以達(dá)到更好的使用效果和性價(jià)比 | |||||||
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