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共焦顯微光譜探測(cè)系統(tǒng)

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更新時(shí)間:2021-07-28 12:42:09瀏覽次數(shù):305

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共焦顯微光譜探測(cè)系統(tǒng)

詳細(xì)介紹

共焦顯微光譜探測(cè)系統(tǒng)


主要設(shè)備型號(hào): Olympus BX51M和Acton SP2500i光譜儀
技術(shù)指標(biāo):
光源波長(zhǎng):200——1000nm
光譜范圍:200——1000nm
準(zhǔn)確度:0.01nm
最小步距:0.0025nm
狹縫寬度:10um——3mm(連續(xù)可調(diào))
樣品臺(tái)調(diào)節(jié)精度:0.005mm
探測(cè)光斑大?。?um-200um(可調(diào))
主要功能及應(yīng)用范圍
   通過(guò)探測(cè) 微納結(jié)構(gòu)的形貌和光譜信息,分析納米材料或結(jié)構(gòu)的組成等。

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