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膜厚測量橢偏儀

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更新時(shí)間：2021-07-28 12:38:35瀏覽次數(shù)：233

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產(chǎn)品簡介

膜厚測量橢偏儀

詳細(xì)介紹

膜厚測量橢偏儀


型號： Smart SE                                                                                        
廠家：HORIBA Jobin Yvon
產(chǎn)地：法國
技術(shù)指標(biāo)：
 光譜范圍：450-1000nm
· 多種微光斑自動(dòng)選擇，精度<1nm
· 光斑可視技術(shù)，可觀測任何樣品表面
· CCD探測器
· 自動(dòng)樣品臺尺寸：200mmX200mm；XYZ方向
· 自動(dòng)調(diào)節(jié); Z軸高度>35mm
主要功能及應(yīng)用范圍：測試各種透明薄膜膜厚。
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