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D-300 臺階儀/探針式輪廓儀

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  • 型號 Alpha-Step D-300
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  • 廠商性質(zhì) 其他
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更新時間:2021-07-23 12:48:31瀏覽次數(shù):415

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產(chǎn)品簡介

探針式輪廓儀/臺階儀/Alpha-StepD-300StylusProfilerAlpha-StepD-300探針式輪廓儀/臺階儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D臺階高度

詳細介紹

探針式輪廓儀/臺階儀/Alpha-Step D-300 Stylus Profiler

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Alpha-Step D-300探針式輪廓儀/臺階儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D臺階高度。 D-300型探針式輪廓儀/臺階儀還可以在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境中支持粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D測量。 D-300包括一個手動140毫米平臺和*的光學系統(tǒng)以及加強視頻控制。

產(chǎn)品描述

Alpha-Step D-300探針式輪廓儀(臺階儀)支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D測量。 創(chuàng)新的光學杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量,大垂直范圍和低觸力測量功能。

探針測量技術(shù)的一個優(yōu)點是它是一種直接測量,與材料特性無關(guān)。 可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結(jié)構(gòu)和材料進行精確測量。

通過測量粗糙度和應(yīng)力,可以對工藝進行量化,確定添加或去除的材料量,以及結(jié)構(gòu)的任何變化。

產(chǎn)品主要特點

臺階高度:幾納米至1000μm

低觸力:0.5至15mg

視頻:500萬像素高分辨率彩色攝像頭

梯形失真校正:消除側(cè)視光學系統(tǒng)引起的失真

圓弧校正:消除由于探針的弧形運動引起的誤差

緊湊尺寸:占地面積小

主要應(yīng)用

臺階高度:2D臺階高度

紋理:2D粗糙度和波紋度

形式:2D翹曲和形狀

應(yīng)力:2D薄膜應(yīng)力

工業(yè)應(yīng)用

大學,研究實驗室和研究所

半導體和復合半導體

LED:發(fā)光二極管

太陽能

MEMS:微電子機械系統(tǒng)

汽車

醫(yī)療設(shè)備

還有更多:請與我們聯(lián)系并探討您的要求


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