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CoreAFM原子力顯微鏡 電子顯微鏡

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  • 型號 CoreAFM
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  • 廠商性質 其他
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更新時間:2023-12-08 09:38:09瀏覽次數(shù):680

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產品簡介

NanosurfCoreAFM原子力顯微鏡高性價比緊湊型科研用原子力顯微鏡●具有價格優(yōu)勢的科研用原子力顯微鏡(AFM)●集成系統(tǒng),占空間小●33種模式和功能●操作使用簡單CoreAFM智能地聯(lián)合原子力顯微鏡的核心部件來實現(xiàn)多功能化與方便使用

詳細介紹

Nanosurf CoreAFM原子力顯微鏡

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高性價比緊湊型科研用原子力顯微鏡

●具有價格優(yōu)勢的科研用原子力顯微鏡(AFM)

●集成系統(tǒng),占空間小

●33種模式和功能

●操作使用簡單

CoreAFM智能地聯(lián)合原子力顯微鏡的核心部件來實現(xiàn)多功能化與方便使用。正是基于這一根本的設計思路, CoreAFM合理地實現(xiàn)了優(yōu)化AFM的功能。

CoreAFM融合了新型柔性導向掃描頭,XYZ樣品臺,攝像頭,主動隔振臺和氣流屏蔽于一個一體化小型儀器中,使得這一完整的AFM系統(tǒng)具有的緊湊尺寸。該系統(tǒng)配有專為CoreAFM掃描頭開發(fā)的全數(shù)字24位控制器?,F(xiàn)代化的AFM的所有功能都是CoreAFM系統(tǒng)的組成部分;要使CoreAFM投入運行,您需要做的就是連接控制器,并插上電源和USB。

CoreAFM_open_overview_crop.jpg



 
 
  

易用性

您立刻就會看出設置和操作CoreAFM是多么容易。觀看視頻,了解主要功能的演示,以及如何使用該系統(tǒng)進行測量的簡要教程。



峰值-保護

Isostage的更深層系統(tǒng)集成體現(xiàn)在*的 峰值-保護, 可消除成像過程中的毛刺。盡管Isostage是一種主動隔振系統(tǒng),但當失真太嚴重時仍會出現(xiàn)毛刺。峰值-保護檢測到這種異常并重新掃描線條以獲得無失真圖像。

spikeguard.jpg

 

功能強大且多樣

采用24位ADC和DAC的電子技術可確保100×100×12μm掃描頭的高分辨率的XYZ三個軸向的驅動,而且具有于懸臂的低噪聲下的力檢測。32種標準的和可選的模式與*兼容的附件使CoreAFM成為從材料研究到生命科學和電化學等應用的工具。以CoreAFM基本的功能為起點,所有可選功能都可以方便快捷地得到擴展。

core-front-closed.jpg

閉合的掃描頭隔間可以隔離聲音和氣流,而樣品臺定位機制

                      仍允許您調整樣品位置

core-front-open.jpg

當掃描頭隔間打開時,可進入掃描頭和樣品臺,例如放置新樣品進行測量


CoreAFM 成像模式

以下描述為儀器所具備的模式。某些模式可能需要其他組件或軟件選項。詳情請瀏覽產品手冊或直接聯(lián)系我們。

標準成像模式

靜態(tài)力模式
橫向力模式
動態(tài)力模式 (輕敲模式)
相位成像模式
  

磁學性能

磁場力顯微鏡

電學性能

導電探針原子力顯微鏡 (C-AFM)
壓電力顯微鏡 (PFM)
靜電力顯微鏡 (EFM)
開爾文探針力顯微鏡 (KPFM)
  

機械性能


力譜
力調制
硬度和彈性模量
黏附力
展開與拉伸
力曲線成像
刻蝕和納米操縱
電化學原子力顯微鏡(EC-AFM)


 

包含的測量模式

CoreAFM開箱就可以實現(xiàn)靜態(tài)力、動態(tài)力、相位成像、磁場力、橫向力、力調制、標準力譜和標準刻蝕。您還可以使用CoreAFM模式工具盒來增強您的測量體驗。

包含的標準模式工具盒

CoreAFM自配置的靜態(tài)力模式工具盒動態(tài)力模式工具盒, 以及 相位成像模式工具盒 可以讓您立即開始使用。根據(jù)測量模式的不同,模式組件可以包括樣品、相配的懸臂、附件或它們的組合。

附加的標準模式工具盒

可單獨購買的附加的標準模式工具包包括標準力譜工具盒標準刻蝕工具盒標準磁力模式MFM工具盒標準液體模式工具盒橫向力模式工具盒, 和 力調制模式工具盒.



CoreAFM 的應用示例

石墨烯的開爾文探針力顯微(KPFM)

石墨烯屬于二維材料范疇,對新設備和新材料的研發(fā)具有重要意義。除了對石墨烯進行原子分辨率成像以了解更多的晶體取向、邊緣和缺陷外,石墨烯的功能特性也備受關注。

在本應用說明中,多層石墨烯采用開爾文探針力顯微鏡(KPFM)成像,使用CoreAFM 研究單個薄片上的接觸電位差變化。

CoreAFM-graphene-optical_A.jpg

用50x NA0.9物鏡在直立顯微鏡上拍攝的光學圖像。取圖方框:記錄石墨烯KPFM數(shù)據(jù)和AFM圖像的區(qū)域

Core-graphene-optical_B.jpg

CoreAFM相同區(qū)域的頂視圖


多層石墨烯薄片是通過石墨的機械剝落和隨后轉移到硅-硅氧化物基體上而產生的。KPFM測量采用單次運行模式,記錄形貌掃描過程中的接觸電位。

用直立顯微鏡定位基體上的薄片,做上標記,使用CoreAFM的頂視攝像頭將相同的薄片放置在微懸臂下,之后記錄石墨烯和KPFM數(shù)據(jù)的AFM圖像。

AN01082-KPFM-Graphene-CoreAFM-00.png
多層石墨烯薄片的AFM形貌圖像上的接觸電位差的疊加。

樣品:瑞士蘇黎世聯(lián)邦理工學院 Hiske Overweg, Klaus Ensslin,

所有測量均使用配備有來自Nanosensors的PPP-EFMR微懸臂的 CoreAFM系統(tǒng) 進行。處理石墨烯的AFM圖像用的是MountainsMap SPM。


平面外壓電響應力顯微鏡(PFM)在鈮酸鋰上的應用

鈮酸鋰Lithium Niobite (LiNbO3) 是一種光學透明的壓電響應材料,用于壓電傳感器或手機。我們用CoreAFM測試了LiNbO3樣品(PFM03,來自愛沙尼亞TipsNano)。樣品具有規(guī)則的域結構,周期為10-μm。自發(fā)極化在相鄰域中具有相反的方向。

為了在成像期間測量壓電響應,當光柵掃描樣品上的懸臂時,將7.5V AC電壓施加到微懸臂上。響應于施加的電壓,樣品周期性地膨脹和收縮,與激發(fā)頻率同相或反相。雖然測量到的小的RMS粗糙度為0.3 nm,在形貌上卻無法識別這些域結構。然而,在平面外壓電響應中可以容易地識別它們。

PFM-lithium-niobate.jpg

鈮酸鋰Lithium Niobate的壓電響應力顯微圖

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