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CST-50沖擊試樣缺口投影儀

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更新時間:2021-07-31 21:18:30瀏覽次數(shù):378

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產(chǎn)品簡介

CST-50沖擊試樣缺口投影儀一.項目簡介:CST-50沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實際需要和GB/T2291994《金屬夏比沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口要求而開發(fā)的一種專用于檢驗夏比V型和U型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器

詳細介紹

  CST-50沖擊試樣缺口投影儀

  一. 項目簡介:
CST-50沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實際需要和GB/T229—1994《金屬夏比沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口要求而開發(fā)的一種專用于檢驗夏比V型和U型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上,與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比,以確定被檢測的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點是操作簡便,對比直觀。
二.方案描述:
本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物體,再以物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。
   根據(jù)需要,本儀器為單一投射照明,光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上,再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰地投射到投影屏上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方位一致。將被測度樣放在工作臺上,旋轉(zhuǎn)工作臺升降手輪,調(diào)焦至影像清晰,再調(diào)整圓工作臺和縱橫向調(diào)節(jié)手輪,使已放大了50倍的試樣V型(或U型)缺口投影圖與本儀器所提供的也放大了50倍的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)尺寸圖對比,即可判斷出沖擊試樣V型(或U型)缺口的幾何尺寸加工質(zhì)量。
三.主要技術(shù)參數(shù):
1、投影屏直徑:                        180mm
2、工作臺尺寸
          方工作臺尺寸:                  110×125mm
          圓工作臺直徑:                   90mm
          工作臺玻璃直徑:                 70mm
3、工作臺行程: 
       縱向:                          ±10mm
       橫向:                          ±10mm
       升降:                          ±12 mm   (無刻度)
4、工作臺轉(zhuǎn)動范圍:                    0~360°  (無刻度) 
5、儀器放大倍率:                      50x
       物鏡放大倍率:                  2.5x
       投影物鏡放大倍率:              20x
6、光源(鹵鎢燈):                     12V     100W
7、電源:                              220V     50Hz
8、外形尺寸:                      515×224×603mm
9、重量:                              約18kg  
 

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