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詳細(xì)介紹
MarSurf XR 20的表面測量儀器，使粗糙度和波紋度測量更加容易。是Mahr積累數(shù)十年計量學(xué)研究經(jīng)驗，結(jié)合未來發(fā)展而產(chǎn)生的測量設(shè)備。
●可提供依據(jù)ISO/JIS/ASME or MOTIF（ISO 12085）標(biāo)準(zhǔn)測量R,P和W輪廓的超過100種參數(shù)
●監(jiān)控公差和所有參數(shù)統(tǒng)計分析
●可快速編程
●可自動選擇符合標(biāo)準(zhǔn)的過濾方式和取樣長度（）
●支持不同Ra或Rz的評定方法（靜態(tài)/動態(tài)）
●多種配置滿足不同應(yīng)用要求
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