ANOTEST YMP30-S鋁上陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試儀 測(cè)厚儀

ANOTEST YMP30-S鋁上陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試儀

ANOTEST YMP30-S用于鋁上陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試

ANOTEST YMP30-S測(cè)量氧化膜的導(dǎo)納（Y），符合 DIN EN ISO 12373-5 及 ASTM 457-67 標(biāo)準(zhǔn)。ANOTEST YMP30-S測(cè)量范圍為 3 – 200 µS，測(cè)量槽直徑為 13 mm
通過(guò)可選的精準(zhǔn)電子參考物質(zhì)校準(zhǔn)儀器
ANOTEST YMP30-S鋁上陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試儀典型應(yīng)用領(lǐng)域
YMP30-S極適合快速簡(jiǎn)便的對(duì)鋁材上的陽(yáng)極氧化膜密閉性進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。 涂層的耐氣候性取決于導(dǎo)納（Y）