產(chǎn)品展廳收藏該商鋪

您好 登錄 注冊

當(dāng)前位置:
上海思長約光學(xué)儀器有限公司>>綜合儀器>>激光平面干涉儀>>CDW-3000S-MO激光平面干涉儀

CDW-3000S-MO激光平面干涉儀

返回列表頁
  • CDW-3000S-MO激光平面干涉儀

收藏
舉報(bào)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 所在地

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品 加入對比

更新時(shí)間:2021-08-04 19:32:38瀏覽次數(shù):759

聯(lián)系我們時(shí)請說明是制藥網(wǎng)上看到的信息,謝謝!

聯(lián)系方式:姜 經(jīng)理查看聯(lián)系方式

產(chǎn)品簡介

CDW-3000S-MO激光平面干涉儀是一款新型的非接觸高精度無損光學(xué)表面測量設(shè)備

詳細(xì)介紹

CDW-3000S-MO激光平面干涉儀

CDW-3000S-MO激光平面干涉儀是一款新型的非接觸高精度無損光學(xué)表面測量設(shè)備。它基于菲索干涉原理,通過分析干涉條紋來確定光學(xué)表面面形。該設(shè)備集成了*的光學(xué)、機(jī)械和電子技術(shù),具有不損傷被測物品、測量精度高、測量時(shí)間短的特點(diǎn);實(shí)現(xiàn)了對準(zhǔn)光路和成像光路的電子切換,方便了用戶的使用。 CDW-3000S-MO適用于車間加工過程的在線檢測和大型的高精度器件檢測。
建議檢測精度為整體精度≤5um的大型平面。

CDW-3000S-MO主要技術(shù)指標(biāo)

技術(shù)指標(biāo)

參數(shù)值

測量原理

菲索干涉原理

顯示方式

CCD顯示

標(biāo)準(zhǔn)參照鏡面形精度

P-V:λ/10

光源

He-Ne激光器

波長

632.8nm

標(biāo)準(zhǔn)測量口徑

Ф300mm

測量行程

1000×2000 (可以訂做其他尺寸)

電源

AC210~230V 50~60Hz

工作溫度

20~25℃

外形尺寸

1200×2000×1800

質(zhì)量

約700kg

配置清單

序號

型號、規(guī)格、名稱

數(shù)量

1

CDW-3000S-MO激光平面干涉儀主機(jī)

1臺

2

氦氖激光電源

1套

3

高精度機(jī)械調(diào)節(jié)架

1套

4

標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)工作平臺

1臺

5

標(biāo)準(zhǔn)Ф300mm光學(xué)平面樣板

1套

6

電腦工作臺

1套

7

DELL計(jì)算機(jī)

1臺

8

14″液晶顯示屏

2臺

9

打印機(jī)

1臺

一 主要數(shù)據(jù)

  • 標(biāo)準(zhǔn)平面(A面),不鍍膜。工作直徑:D1=φ285mm 不平度小于0.05um
    2.第二標(biāo)準(zhǔn)平面(B面),不鍍膜。工作直徑:D2=φ285mm 不平度小于0.08um
    3.準(zhǔn)直系統(tǒng):孔徑F/2.8,???????? 工作直徑:D0=φ285mm 焦距:f=400mm
    4.測微目鏡:焦距f=16.7mm,放大倍數(shù)β=15X,視場角2W=40°, 成像物鏡:1.D=4.5 II.D=7 III.D=10 F=15 f=23 f=37

  • 5.工作波長:632.8nm
    6.干涉室尺寸:深400寬500*400mm。
    7.光源規(guī)格:激光ZN18(He-Ne)。
    8.儀器的外形尺寸:長*寬*高 500*600*1200mm
    9.儀器重量:150公斤


圖一 標(biāo)準(zhǔn)平面(A面)精度照片

圖二 第二標(biāo)準(zhǔn)平面(B面)

二,工作原理
本儀器工作基于雙光束等厚干涉原理。
根據(jù)近代光學(xué)的研究結(jié)果,光兼有波動與顆粒兩重特性。光的干涉現(xiàn)象是光的波動性的特性。因此,

介紹本節(jié)內(nèi)容時(shí),僅在光的波動性的范圍內(nèi)討論,例如,把“光"稱為“光波",“平行光"稱為

“平面光"。 波長為 的單色光經(jīng)過儀器有關(guān)的光學(xué)系統(tǒng)后成為平面波M。(如圖三所示),經(jīng)儀

器的標(biāo)準(zhǔn)平面P1和被檢系統(tǒng)P2反射為平面波M1和 M2。M1、M2即為兩相干光波,重疊后即產(chǎn)生等

厚干涉條紋。

等厚干涉原理
能夠產(chǎn)生干涉的光束,叫相干光。相干光必須滿足三個(gè)條件:1.震動方向必須一致,2.頻率相等:

3.光束必須相遇,且在相遇點(diǎn)處的相位差在整個(gè)時(shí)間內(nèi)為一常量。如圖三(3)基準(zhǔn)面P1,被測

面為P2.當(dāng)平行光束是S-S射到基準(zhǔn)面P1上時(shí),其中一部分反射為S′-S′,
另一部分折射為B-F,進(jìn)入基準(zhǔn)面和被測面之間的空氣層內(nèi),經(jīng)被測零件的上表面P1反射之后

,沿方向S′-S′射出。 兩束光在C點(diǎn)處相遇,其光程差 為: =(BF+FC)n′-EC.n

(1) 式中n′和n——分別表示玻璃和空氣的折射率。由圖三(3)可得:BF=FC=

(2)式中 h——空氣層的厚度;i和i′——分別為入射角和折射角由△BEC和△BCF可行EC=BCsini

(3) BC=2h tgi′(4) 將公式

(4)代入(3)后,再和(2)一起代入(1)得: 因?yàn)閚 sin i=n′sin i′,所以 空氣的折射率n=1,故  =2 h cos? i′ 由于光線在被測零的表面上反射,其位相將發(fā)生 /2的突變,故光程差 應(yīng)該用下式來表示:

(5) 為了討論方便起見,將公式(5)寫成如下的形式:
 當(dāng)式中的m為整數(shù)時(shí),m即為干涉級數(shù)。由于這時(shí)相干光的初始相位差φ=0,所以m即為干涉條紋的條紋數(shù),亦即通常所說的光圈數(shù)。
由公式(5)可以看出:光程差 的大小僅僅與空氣層的厚度和光線的折射角有關(guān)。相干光束

以相同的傾角射入空氣層,由于空氣厚度的變化,所呈現(xiàn)的亮暗相間的干涉條紋是對空氣層

上等厚度點(diǎn)的軌跡,這類干涉就稱為等厚干涉。
見圖三(2)由于儀器的標(biāo)準(zhǔn)平面P1具有很高的精度,因此可以認(rèn)為:經(jīng)P1反射后的波面M1

與M0*相同。
假使被檢系統(tǒng)P2*,因此也可以認(rèn)為:經(jīng)P2反射后的波面M2與M0*相同,即與M1完

全相同。
如果M1、M2之間存在楔角 ,則兩波面疊加相干時(shí),得到平行的、直線的、等間距的一系列干

涉條紋,相鄰兩條紋的間隔——即條紋寬度B由下決定:
B=?? ( 以弧線計(jì))…………………

(6) 式? B= ? ( 以秒計(jì)算)………

(7) 當(dāng)B =632.8nm時(shí)(He-Ne激光輸出波長)時(shí), B=130.528/ (mm) (8) 由(6)(7)(8)式可知:

  • 愈大,B愈小,條紋愈密,窄(圖四a)

  • 愈小,B愈大,條紋愈疏,寬(圖四b)

  • =0,B= ,干涉場為一片顏色(圖四c)

如果被檢系統(tǒng)P2存在缺陷,則反射波面M2將產(chǎn)生對M1的某些偏離,此時(shí)將產(chǎn)生與下述不同的干涉條紋。

圖四
如M2是一半徑很大的球面波,則可能得到圓弧的干涉條紋(圖五a)。
如M2是一半徑不是很大的球面波,則可能得到一系列圓環(huán)形的干涉條紋(圖五b)
如M2是柱面的波形,則可能那個(gè)得到一系列直線的平行的,但間距不等的干涉條紋也可能得到

彎曲的,但不是圓弧狀的干涉條紋(圖六a)
如果M2是一個(gè)不規(guī)則的波面,則得到相應(yīng)不規(guī)則的干涉條紋(圖六a)

因此,我們得到的干涉圖正確地表現(xiàn)力經(jīng)被檢系統(tǒng)反射形成的波面的全部誤差信息,對這些

條紋進(jìn)行正確地解釋或計(jì)算,可以測得被檢系統(tǒng)的誤差。
對于被檢平面,常用N、△N來表示其平面性精度。

圖五

圖六

  • 使用中的幾點(diǎn)說明

3-1防震
我公司生產(chǎn)的激光平面干涉儀在設(shè)計(jì)時(shí),對儀器結(jié)構(gòu)本身的防震作過一定的考慮,因此一般只要

在工作臺上放一塊10毫米厚度的橡皮或毛氈即可,工作場地的地面應(yīng)結(jié)實(shí)牢固,不允許有人走動

時(shí)能感覺到的震動。儀器如放在木制工作臺時(shí),因儀器本身有100公斤,為使工作臺變形引起震

動,因此儀器需放在腳比較結(jié)實(shí)的一邊,這樣就能減少晃動。
3-2干涉條紋數(shù)的確定和方向

??? 在干涉測量時(shí),對于干涉條紋數(shù)目選擇多少影響到工件本身的測量誤差。干涉條紋數(shù)目

太少(疏)反映不了整個(gè)面形的誤差,干涉條紋數(shù)目太多(密),干涉條紋失高的測量誤差也

很難計(jì)算。根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn),使被檢區(qū)域內(nèi)出現(xiàn)3-5干涉條紋,這樣誤差就能容易判斷。如果對高

精度平面的測量,以米字形四個(gè)方向?qū)Ω缮鏃l紋進(jìn)行觀察,這樣就更能客觀地反映被檢工

件整個(gè)的面形誤差。如圖七所示。 圖七 觀察、照相干涉條紋四個(gè)方向
3-3干涉條紋的正負(fù)判斷
區(qū)分被檢工件平面度的正負(fù)即高(凸)低(凹)圈的方法很多。以本儀器而已,從使用方便角

度來看,首先用手指輕輕托托被檢工件的下方,看干涉條紋的移動方向,然后把門關(guān)上,在用

肉眼觀察的,同時(shí)用兩手輕輕從上至下按動儀器中的微動手輪,看是否與托被檢工作臺一致

(一般都是一致的),此時(shí)從視場中就能很容易地看到條紋在按動中向某一個(gè)方向移動,根

據(jù)我公司儀器情況,如果按下去條紋凸的方向向外擴(kuò)散(如圖八),我們就認(rèn)為工件面形為高

光圈(凸面),如果條紋方向按下去收縮,我們就認(rèn)為低光圈(凹圈)。若按動微動手輪和輕

托工作臺不一致,就按輕托工作臺為準(zhǔn),用這個(gè)方法在檢測中比較簡單,使用起來也極為方便。

圖八? 干涉條紋判別
3-4影響條紋清晰度的幾種原因
影響條紋清晰度的原因很多,我們在使用過程中大致有以下幾種情況:

  • 激光光束與小球關(guān)系

在使用中,激光光束是否很均勻地照射在φ2mm的小球上(G1),如果有偏離,使干涉場強(qiáng)不均勻,

這樣觀察到的條紋就有粗細(xì),容易造成條紋精度的判別錯(cuò)誤,因此在使用前,調(diào)節(jié)光束是必須的。

  • 激光管老化: 激光管在使用一段時(shí)間后,光亮度會減弱,同時(shí)會出現(xiàn)忽亮忽暗現(xiàn)象,此

  • 時(shí)看到的條紋也是不清晰的,換一根管子即能排除。

  • 被檢工件面和主鏡與小球的不清潔:、

如被檢工作面沒有擦清或主鏡有手印時(shí)間長了出現(xiàn)霉斑以及小球占上灰塵都能影響干涉條紋的

清晰度,因此,在檢定前清洗各光學(xué)件是必須的。

  • 被檢工件和主鏡的高度:

在檢測時(shí),被檢工件靠近主鏡,這是由于不可避免的模式競爭,使激光管的單色性更差,

從而使干涉條紋模糊,在工作中我們發(fā)現(xiàn)越靠近主鏡(當(dāng)然不要碰到主鏡),它的條紋越清晰。


特長
Windows操作系統(tǒng)
高精度、快速分析
提供多種測量指標(biāo)
對光學(xué)元件面形精度進(jìn)行數(shù)字化分析并提供多種測量指標(biāo)
顯示
V值、RMS值、等高圖、三維立體圖、三維網(wǎng)格圖、X-Y剖面圖、干涉條紋圖、Zernike多項(xiàng)式、Seide

l像差分析、MTF(光學(xué)傳遞數(shù))、PSD(功率譜密度)、PSF(點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù))、波前梯度等
其它功能
數(shù)據(jù)保存、數(shù)據(jù)打印、測量區(qū)域圖形的設(shè)定

收藏該商鋪

登錄 后再收藏

提示

您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~

對比框

產(chǎn)品對比 二維碼 意見反饋

掃一掃訪問手機(jī)商鋪
在線留言