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偏光顯微鏡Axio Imager 2

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更新時(shí)間:2021-08-12 15:39:40瀏覽次數(shù):462

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:程序簡(jiǎn)便,操作可靠您是否正在尋找一款能夠可靠地進(jìn)行檢測(cè)分析、獲得高質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果且簡(jiǎn)便易用的顯微鏡?智能Axio Imager偏光顯微鏡堪稱(chēng)是您的理想選擇。該系列顯微鏡有編碼型、部分電動(dòng)型或全電動(dòng)型可供選擇,滿(mǎn)足您的個(gè)性化需求。

詳細(xì)介紹

  1. 程序簡(jiǎn)便,操作可靠


    您是否正在尋找一款能夠可靠地進(jìn)行檢測(cè)分析、獲得高質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果且簡(jiǎn)便易用的顯微鏡?智能Axio Imager偏光顯微鏡堪稱(chēng)是您的理想選擇。

    該系列顯微鏡有編碼型、部分電動(dòng)型或全電動(dòng)型可供選擇,滿(mǎn)足您的個(gè)性化需求。


    優(yōu)勢(shì)


    薄層太陽(yáng)能電池表面,Axio Imager,透射光偏光加λ片


    自動(dòng)識(shí)別組件,讓您事半功倍

    借助自動(dòng)組件識(shí)別(ACR)功能,使您能夠始終方便地使用顯微鏡設(shè)置。所有電動(dòng)主機(jī)架能夠自動(dòng)識(shí)別物鏡。此外,ACR還能在全電動(dòng)主機(jī)架中識(shí)別反射光模塊。Axio Imager能自動(dòng)對(duì)組件的變換進(jìn)行記錄。


    無(wú)振動(dòng)設(shè)計(jì)確保長(zhǎng)時(shí)間成像的可靠性

    借助Axio Imager出色的穩(wěn)定性得以實(shí)現(xiàn)可隨時(shí)間變化的測(cè)量和高放大倍率觀(guān)察,物鏡轉(zhuǎn)盤(pán)、z軸升降臺(tái)和載物臺(tái)被設(shè)計(jì)為一個(gè)緊湊式無(wú)振動(dòng)單元,獨(dú)立于主機(jī)架的其余部分。這種“穩(wěn)定單元"結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)為獲得高質(zhì)量的檢測(cè)結(jié)果創(chuàng)造了理想的測(cè)量條件。


    功能豐富,操作舒適


    ·  簡(jiǎn)化復(fù)雜的程序。通過(guò)主機(jī)架或外置工作站上的觸摸屏來(lái)控制所有電動(dòng)化組件。

    ·  保存?zhèn)€性化設(shè)置,一鍵即可輕松還原設(shè)置。聚焦操作方便直觀(guān) – 符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的觸控式按鈕。

    ·  或者,通過(guò)任意擺放的控制面板(可*與主機(jī)架分離)來(lái)操作偏光顯微鏡系統(tǒng)。觀(guān)察方式和光路管理器能夠自動(dòng)選擇理想設(shè)置,以生成可重復(fù)且可靠的觀(guān)測(cè)結(jié)果


    方法


    錐鏡檢查:使用偏光顯微鏡可以實(shí)現(xiàn)快速可靠的晶體結(jié)構(gòu)分析

    使用偏光顯微鏡能夠同時(shí)采集無(wú)畸變的和錐光的圖像信息。借助特別設(shè)計(jì)的Pol以及額外的中間像平面,可以同時(shí)看到物體、十字線(xiàn)和光圈。通過(guò)調(diào)節(jié)型可變光闌能夠?qū)㈠F光觀(guān)測(cè)范圍縮小至10μm 的晶體粒度。預(yù)先居中的Bertrand光學(xué)可以輕松打開(kāi)和關(guān)閉。這一特性讓您即使在捕獲圖像或使用視頻設(shè)備時(shí),也可以在各種之間快速切換。


    一致的測(cè)量性能

    ·  借助可360°刻度和0.1°游標(biāo)的旋轉(zhuǎn)、載物臺(tái)可以輕松實(shí)現(xiàn)測(cè)量(例如:用于測(cè)量礦物的解理角)。

    ·  光程差測(cè)定或應(yīng)變測(cè)量


    具有固定光程差的補(bǔ)償器

    ·  全波片λ

    ·  四分之一波片λ/4

    ·  全波片λ,可旋轉(zhuǎn)+/- 8°

    大量光譜補(bǔ)償器可選,涵蓋從0至30λ的測(cè)量范圍。


    具有可變光程差的補(bǔ)償器

    ·  光楔補(bǔ)償器0-4λ

    ·  測(cè)量補(bǔ)償器

      Berek傾斜補(bǔ)償器0-5λ

      Berek傾斜補(bǔ)償器0-30λ


    Axio Imager可應(yīng)用于更多方法,例如:

    ·  熱顯微分析

    ·  使用蔡司ZEN Core軟件進(jìn)行數(shù)字分析(例如,使用晶粒度分析或顆粒度分析)

    應(yīng)用

    Coolidge隕石中的棒橄欖球粒

    樣本:Jutta Zipfel博士,德國(guó)法蘭克福森肯伯格研究博物館隕石研究部

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