FLEXTM經(jīng)濟型-紫外-可見-近紅外顯微光譜儀 紫外分光光度計

FLEX_TM是來自于CRAIC科技公司的一款經(jīng)濟但是功能強大的紫外-可見-近紅外顯微分光光度計。FLEXTM可以對微米量級的樣品進行無損的吸收、反射和熒光光譜測試。
FLEXTM顯微分光光度計從命名上可以看出是一款具有非常好靈活性的儀器。
FLEXTM能夠只使用一個鏡頭測量微光樣品從深紫外到近紅外范圍的光譜。設(shè)計的靈活性和經(jīng)濟性，模糊了科研級和工業(yè)使用的顯微分光光度計的界限；儀器操作簡單易用和功能的強大適合于法醫(yī)鑒定和工業(yè)品質(zhì)檢測。
FLEXTM顯微分光光度計的特點是將高靈敏度CCD陣列探測器支柱整合到光度計上，每個探測器都是用TE冷卻技術(shù)達到降低噪聲和保證長時工作穩(wěn)定性的要求，這使得儀器保持了非常優(yōu)良的信噪比。FLEXTM包含了一臺紫外-可見-近紅外顯微鏡，一套高分辨率彩色成像系統(tǒng)，紫外防護目鏡，一臺運行Windows7專業(yè)版系統(tǒng)的主機和一套整合光譜分析/儀器控制的軟件包。FLEXTM操作簡單、使用長久耐用，能夠提供出非常的實驗結(jié)果。
應(yīng)用
痕量證據(jù) 文檢 表面等離子共振 半導體薄膜厚度
 光譜范圍 240 to 900 nm
反射光譜范圍 400-900nm
熒光光譜范圍 400-900nm
熒光激發(fā) 365-546nm
采集面積 1-10000平方微米
熒光發(fā)射 254-546nm
光譜分辨率 1-15nm可調(diào)
探測器 CCD陣列
探測器制冷 半導體制冷
掃描時間 最小4ms
成像 彩色
成像分辨率 高達500萬像素
操作系統(tǒng) Windows 7 ，8