輪廓粗糙度儀-XCR20

在測量站使用 MarSurf XCR 20 測量粗糙度和輪廓，這個綜合的測量站可在一臺測量站上同時執(zhí)行表面粗糙度和輪廓測量。
根據(jù)測量任務，可使用 GD 25 驅動裝置進行表面粗糙度測量，或使用 PCV 驅動裝置進行輪廓測量。
兩個測量系統(tǒng)通過組合支架固定到測量立柱。

• 節(jié)省空間型設計：兩個驅動裝置可使用相應的組裝支架安裝到 MarSurf ST 500 或 ST 750 測量立柱
• 一次測量即可完成粗糙度和輪廓評估
• 使用 MarSurf LD 130 / LD 260 測量系統(tǒng)對組件進行高精密度輪廓和粗糙度評估需要長行程和*的分辨率
• 只需在軟件平臺內進行切換并更換驅動裝置和測頭等機械組件即可快速更換粗糙度和輪廓測量