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PE NexION 2000 ICP-MS電感耦合等離子體質譜儀

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更新時間:2021-08-31 08:30:08瀏覽次數(shù):764

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產(chǎn)品簡介

NexION® 2000電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS)融合多項*的創(chuàng)新技術,專為適應所有基體、克服一切干擾、挑戰(zhàn)任何納米顆粒檢測而打造。

詳細介紹

NexION 2000 ICP-MS的*技術優(yōu)勢包括:

高度靈活的通用池技術(Universal Cell Technology™),標配三路碰撞/反應氣,可以應用于高反應活性氣體(例如氨氣)作為反應氣的ICP-MS,助您有效去除質譜干擾,獲得優(yōu)異的檢出下限;

全基體進樣系統(tǒng)(AMS),與智能動態(tài)線性范圍更寬的檢測器相匹配,可在進樣過程中對樣品實現(xiàn)智能在線稀釋,輕松實現(xiàn)復雜的樣品分析和不同基體樣品切換帶來的前處理時間

優(yōu)異的掃描速度和瞬時數(shù)據(jù)采集速率(高達100000數(shù)據(jù)點/秒),配合的軟件模塊,實現(xiàn)單納米顆粒和單細胞的檢測;

革命性的LumiCoil™射頻線圈技術,無需水冷或氣冷;

操作軟件界面直觀,內置多種為U.S. EPA 6020、EPA 200.8、ISO 17294、USP 232/233和ICH Q3D等標準和法規(guī)量身定做的預設方法,應對飲用水、廢水、海水、土壤和藥品等的合規(guī)分析。

技術參數(shù):

尺寸(寬xx高)

81 x 69 x 75 cm

儀器配件

自激式射頻等離子體發(fā)生器,通用池技術,三錐接口(TCI),全彩等離子體觀測窗,四極桿離子偏轉器(QID), 雙模同時檢測器

進樣系統(tǒng)

帶有AMS的高基體進樣系統(tǒng)(綠色);

帶有AMSSC-FAST的高通量高基體進樣系統(tǒng)(黑色);

高純度SilQ石英進樣系統(tǒng)(白色)或耐HF進樣系統(tǒng)(白金色)

瞬時數(shù)據(jù)采集速率

100,000 amu/sec

檢出限(ng/L (ppt)

BeCo0.5,Fe1.5In、U0.25

靈敏度(M cps/mg/L

Be6In100,U80

氧化物和雙電荷比率

CeO/Ce+ 0.025;

Ce++/ Ce+ 0.03

背景噪音

220 1 cps

短期精度

< 3% RSD

長期穩(wěn)定性

< 4% RSD(>4h

同位素比率精度

< 0.08% RSD

質量校準穩(wěn)定性

< 0.05 amu(持續(xù)工作>8 h

四極峰跳速率

1.6 M amu/sec

四極掃描速率

5000 amu/sec

靈敏度

238 U

瞬態(tài)數(shù)據(jù)采集速度

3000 數(shù)據(jù)點/

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