CST-50夏比投影儀

工作原理：

          本儀器為單一投射照明，光源通過(guò)一系列光學(xué)元件投射在工作臺(tái)上，再通過(guò)一系列光學(xué)元件將被測(cè)試樣缺口輪廓清晰的投射到投影屏上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方向是一致的。

用途與特點(diǎn)：

        該機(jī)是專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀、效率高，是目前切實(shí)可行、并能保證檢查質(zhì)量的方法，是相關(guān)理化試驗(yàn)室的所需儀器。

主要技術(shù)參數(shù)：

1.     放大倍數(shù)：50×；

2.     投影屏尺寸：ф200mm;

3.     工作臺(tái)位移：縱向±10mm，橫向±10mm，升降±12mm(無(wú)刻度)；

4.     工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0～360^о（無(wú)刻度）；

5.     光源：鹵鎢燈12V  100W;

6.     電源：200V  50HZ  150W;

7.     外形尺寸：515×224×603mm;

8.     重量： 約18kg。