全反射X射線熒光光譜儀 S2 PICOFOX

痕量分析 TXRF 光譜儀

快速多元素痕量分析可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U，檢出限到2pg。

需要樣品量少，液體及懸浮物樣品1-50微升，粉末樣品10微克以內(nèi)。

便攜式全反射熒光儀，設(shè)備小巧，一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計，不需要任何輔助設(shè)備及氣體、液氮等，可拿到現(xiàn)場進行分析。

1位及25位全自動進樣器兩款設(shè)計，分別適用于每天有少量樣品及大批量樣品的全自動分析。

第四代XFlash®SDD硅漂移探測器，采用帕爾貼冷卻技術(shù)，不需要液氮，沒有任何消耗。分辨率優(yōu)于160eV at MnKa 100Kcps。

由于全反射無背景，熒光強度與元素含量直接成正比。標準曲線工廠已校準好，用戶不需要標樣就可以進行定量分析。

行業(yè)應(yīng)用：

水、廢水、土壤中的污染元素；血液、尿液、組織中的有毒元素；食品、醫(yī)藥、刑偵、環(huán)保、陶瓷、水泥、建材、地質(zhì)等領(lǐng)域。