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狹縫掃描式光束質量分析儀返回列表頁

參考價: ￥ 1000

訂貨量: ≥1 臺

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產品型號BeamMap2-CM

品牌其他品牌

廠商性質代理商

所在地北京市

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更新時間：2024-09-11 15:44:34瀏覽次數(shù)：279次

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產地	進口	產品新舊	全新

產品特點：

· 190至1150 nm，Si探測器

· 650至1800 nm，InGaAs 探測器

· 1000至2300或2500 nm，InGaAs（擴展）探測器

· 光束直徑~100 μm至~3 mm（1.5 mm加長InGaAs）

· 25 μm狹縫對與Si；0.1到2 μm采樣間隔

· 50 μm狹縫對，帶 InGaAs；0.1到2 μm采樣間隔

· 實時±1 mr實時發(fā)散和指向測量精度

· 端口供電，USB2.0，靈活的3米電纜，沒有電源磚

· 0.1 μm采樣和分辨率

· 線性和對數(shù)X-Y輪廓

· 輪廓縮放和狹縫寬度補償

· 實時多Z平面掃描狹縫系統(tǒng)

· 實時XYZ輪廓，焦點位置

· 實時M2、發(fā)散、準直、對準

產品參數(shù)：

產品參數(shù)
波長	Si detector: 190 to 1150 nm InGaAs detector: 650 to 1800 nm Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm
掃描光束直徑	Si detector: 5 μm to 4 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode* InGaAs detector: 10 μm to 3 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode* InGaAs (extended) detector: 10 μm to 2 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*
平面間距（CM4 models）	5 mm: -5, 0, +5, +20 mm
平面間距 (CM3 models)	10 mm: -10, 0, +10, 0 mm
束腰直徑測量	Second moment (4s) diameter to ISO 11146; Fitted Gaussian & TopHat 1/e2 (13.5%) width User selectable % of peak Knife-Edge mode* for very small beams
束腰位置測量	在 X、Y 和 Z 方向上 ± 20 μm z佳
測量源	連續(xù)波；脈沖激光，Φ μm ≥ [500/(PRR in kHz)]
分辨率精度	0.1 μm或掃描范圍的0.05%±< 2% ± = 0.5 μm
M2 測量	1 to > 20, ± 5%
發(fā)散/準直，指向	1 mrad
zui大功率和輻照度	1 W Total & 0.5 mW/μm2
增益范圍	1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range
顯示圖形	X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16
更新率	~5 Hz
平均	用戶可選擇運行平均值（1 到 8 個樣本）
zui低電腦要求	Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port

* Knife-Edge mode需要 CM3 型號

產品選擇：

	Beam’R2	BeamMap2
主要特征	集成X和Y輪廓	實時 XYZθΦ 測量和焦點查找實時指向、發(fā)散和M² 測量
接口	USB 2.0 Port-powered
CW or Pulsed?	CW，脈沖zui小 PRR（Si 探測器）≈ [500/（激光直徑μm）] kHz
波長	Si:190-1150 nm InGaAs:650-1800 nm Si+InGaAs:190-1800nm Si+InGaAs,extended:190-2500nm
X-Y-Z Profiles, plus Θ-Φ	N/A
z佳分辨率	0.1 μm
zui小光束	2 μm (Knife Edge mode)
更新率	5 Hz real-time (adjustable 2-10 Hz)
M² 測量	Yes - with M2DU-BR accessory	Yes - real-time
定位焦點	Yes - with M2DU-BR accessory	Yes - real-time
指向/發(fā)散	Yes - with M2DU-BR accessory	Yes - real-time
開關增益（選項 dB）	32 dB

參數(shù)	參數(shù)值	BeamMap2	Beam'R2	Comments
波長可選范圍（nm）	190-1150, 650-1800, 190-1800, 190-2500	Yes	Yes	Si, InGaAs, Si + InGaAs,
被掃描光束直徑	2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X)	Yes	Yes	Si + InGaAs, extended
X-Y 輪廓及中心分辨率：	0.1 μm 或者 0.05% 的掃描范圍	Yes	Yes
精度:	±<2% ± ≤0.5μm	Yes	Yes
CW or Pulsed	連續(xù)/脈沖 zui小PRR ≈ [500/(激光直徑μm)]kHz	Yes	Yes
光束對準準直	± 1 mrad with BeamMap2 ColliMate	Yes	-
M2 測量	1 to >20, ± 5%	Yes	-	Beam Dependent
實時更新	5 Hz	Yes	Yes	4 Z-plane hyperbolic fit
zui大功率＆輻照度	1 W Total & 0.3 mW/μm2	Yes	Yes	Adjustable 2-12 Hz
增益范圍：	32dB	Yes	Yes	Metallic film on Sapphire slits