高低溫環(huán)境檢測儀器 返回列表頁

高低溫環(huán)境檢測儀器性能指標(biāo)符合GB《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法、低溫、高溫試驗設(shè)備》的要求;>試驗A:低溫試驗方法GB 2423. 1-89(IEC68-2-1);試驗B:高溫試驗方法GB 2423.2-89(IEC68-2-2)。主要用于檢測材料在各種環(huán)境下，耐熱、耐寒、耐干性能。

高低溫環(huán)境檢測儀器的參數(shù)：

升降溫速率：

RT<----->150℃ 約35分鐘（非線性空載，約3.0℃/分鐘）。

RT<----->-20℃ 約45分鐘（非線性空載，約1.0℃/分鐘）。

解析精度： 0.01℃。       

控制精度：≤±0.5℃。

均勻度：≦2.0℃。

(除了以下標(biāo)準尺寸柳沁還可以為大家定制非標(biāo)尺寸）

LQ-GD-80試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm:400*400*500。

LQ-GD-150試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm: 500*500*600。

LQ-GD-225試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm: 600*500*750。

LQ-GD-408試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm: 600*800*850。

LQ-GD-800試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm: 1000*800*1000。

LQ-GD-1000試驗箱內(nèi)尺寸（W*D*H）mm:1000*1000*1000。