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CAF測(cè)試系統(tǒng) HAST高加速壽命試驗(yàn)箱

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更新時(shí)間：2024-08-21 15:19:07瀏覽次數(shù)：358次

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成都中冷低溫科技有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地	國(guó)產(chǎn)	產(chǎn)品大小	中型
產(chǎn)品新舊	全新	結(jié)構(gòu)類(lèi)型	立式
溫度范圍	+105℃~+150℃

CAF測(cè)試系統(tǒng) HAST高加速壽命試驗(yàn)箱，CAF測(cè)試也叫離子遷移測(cè)試，CAF測(cè)試是一種用于評(píng)估材料中離子遷移性質(zhì)的實(shí)驗(yàn)方法。該測(cè)試通常用于檢測(cè)包裝材料、食品接觸材料等領(lǐng)域，以確定其中可能存在的有害離子的遷移情況，以保證產(chǎn)品的安全性和合規(guī)性。

詳細(xì)介紹

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可與zonglen HAST高加速老化試驗(yàn)箱配合使用，主要用于產(chǎn)品導(dǎo)通電阻性能驗(yàn)證。更好的保證您PCB檢測(cè)的精度和可靠性。

CAF測(cè)試系統(tǒng) HAST高加速壽命試驗(yàn)箱

CAF是指印制線路板內(nèi)部在電場(chǎng)作用下跨越非金屬基材而遷移傳輸?shù)膶?dǎo)電性金屬鹽構(gòu)成的電化學(xué)遷移。它通常發(fā)生在印制線路板基材中沿玻璃纖維到樹(shù)脂的界面上，從而導(dǎo)致兩個(gè)相鄰的導(dǎo)體之間絕緣性能下降甚至造成短路，是印制線路板產(chǎn)生電氣故障的一個(gè)重大而且具有潛在危險(xiǎn)的根源。

CAF測(cè)試系統(tǒng) HAST高加速壽命試驗(yàn)箱

CAF測(cè)試也叫離子遷移測(cè)試，CAF測(cè)試是一種用于評(píng)估材料中離子遷移性質(zhì)的實(shí)驗(yàn)方法。該測(cè)試通常用于檢測(cè)包裝材料、食品接觸材料等領(lǐng)域，以確定其中可能存在的有害離子的遷移情況，以保證產(chǎn)品的安全性和合規(guī)性。

隨著電子設(shè)備在智能化的方向及小型化、輕量化迅速發(fā)展，印制線路板的線路也越來(lái)越細(xì)，間距越來(lái)越小，絕緣層越來(lái)越薄，鉆孔尺寸也向更小更密的方向發(fā)展，并且由于信息傳輸速度的提升，使得印制板所承受的工作溫度也在不斷地上升。因此，在印制線路板的質(zhì)量與可靠性測(cè)試中，CAF的測(cè)試也就變得越來(lái)越重要。

可與zonglen HAST高加速老化試驗(yàn)箱配合使用，主要用于產(chǎn)品導(dǎo)通電阻性能驗(yàn)證。更好的保證您PCB檢測(cè)的精度和可靠性。

關(guān)鍵詞：試驗(yàn)箱老化試驗(yàn)箱