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B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)

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參   考   價: 99999

訂  貨  量: ≥1 臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地成都市

聯(lián)系方式:羅林查看聯(lián)系方式

更新時間:2024-10-14 15:39:02瀏覽次數(shù):204次

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經(jīng)營模式:生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品:116條

所在地區(qū):四川成都市

聯(lián)系人:羅林 (運營經(jīng)理)

產(chǎn)品簡介
產(chǎn)地 國產(chǎn) 產(chǎn)品大小 中型
產(chǎn)品新舊 全新 結(jié)構類型 立式
溫度范圍 +105℃~+150℃    

B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng),HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的,這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應力條件施加到模具/裝置上。

詳細介紹

(價格僅供參考,請以實際價格為準

B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)適用于IC封裝,半導體,微電子芯 片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速 壽命信賴性試驗,使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和 薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。


B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫 度中,(環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設定)給被測元件施加一定的偏置電 壓。同時控制系統(tǒng)實時檢測每個材料的漏電流,電壓,并根據(jù)預先設定, 當被測材料實時漏電流超出設定時,自動切斷被測材料的電壓,可以保護 被測元件不被進一步燒毀。


B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng) 應用:

二極管,三極管,MOSFET,IGBT,SBD,GaN Fet, SCR以及各種封裝 形式的射頻場效應管、射頻功率器件進行溫濕度下反偏試驗 。


B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng) 特點:

·每顆器件的Vgs獨立控制

·實時監(jiān)測每個試驗器件的 Id、Ig

·控制上、下電時序

·全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel

·試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線

·漏電流超限保護,自動切斷測量回路

B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)






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