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成都中冷低溫科技有限公司


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HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)

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參   考   價: 99999

訂  貨  量: ≥1 臺

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地成都市

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更新時間:2024-09-09 17:43:59瀏覽次數(shù):143次

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產(chǎn)品簡介
產(chǎn)地 國產(chǎn) 產(chǎn)品大小 中型
產(chǎn)品新舊 全新 結(jié)構(gòu)類型 立式
溫度范圍 +105℃~+150℃    

HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng),微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)。是一種用于評估微波器件在條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓,模擬微波器件在實際使用中可能遇到的高溫、高壓等惡劣環(huán)境,以加速器件的老化過程。

詳細(xì)介紹

(價格僅供參考,請以實際價格為準(zhǔn)

HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是一種用于評估微波器件在條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓,模擬微波器件在實際使用中可能遇到的高溫、高壓等惡劣環(huán)境,以加速器件的老化過程。


HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng),微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng) 應(yīng)用適用于各種封裝形式的射頻場效應(yīng)管、射頻功率器件進(jìn)行溫濕度下反偏試驗 。


HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng),微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng) 特點

·每顆器件的Vgs獨立控制

·實時監(jiān)測每個試驗器件的Id、  Ig

·控制上、下電時序

·全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中,  可輸出Excel

·試驗報表和繪制全過程漏電流  IR變化曲線


HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng) 微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)

HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)



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