詳細(xì)介紹
特點(diǎn):
自動(dòng)組件識(shí)別技術(shù)值得信賴
自動(dòng)組件識(shí)別(Automatic Component Recognition ACR)技術(shù),使您方便的使用顯微鏡設(shè)置。所有電動(dòng)主機(jī)架能夠自動(dòng)識(shí)別物鏡。此外,ACR 技術(shù)還能在全電動(dòng) Z 系列主機(jī)中識(shí)別反射光模塊。系統(tǒng)能自動(dòng)對(duì)組件的變換進(jìn)行登記。
無(wú)振動(dòng)設(shè)計(jì)確??煽康拈L(zhǎng)時(shí)間成像
借助 Axio Imager 出色的穩(wěn)定性得以實(shí)現(xiàn)可隨時(shí)間變化的測(cè)量和高放大倍率觀察。物鏡轉(zhuǎn)盤、z 軸升降臺(tái)和載物臺(tái)被設(shè)計(jì)為一個(gè)緊湊式無(wú)振動(dòng)單元,獨(dú)立于主機(jī)架的其余部分。這種所謂的 "stable cell" 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)能夠創(chuàng)建理想的測(cè)量條件,以獲得超高質(zhì)量的觀測(cè)結(jié)果。
擴(kuò)展功能令操作更舒適
簡(jiǎn)化復(fù)雜程序。通過主機(jī)架或外置工作站上的觸摸屏來(lái)控制全部電動(dòng)化組件。
保存?zhèn)€性化設(shè)置并實(shí)現(xiàn)一鍵還原。聚焦操作方便直觀 – 符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的觸控式按鈕。
或者通過任意擺放的控制面板(可*與主機(jī)架分離)來(lái)操作偏光顯微系統(tǒng)。觀察方式和光路管理器能夠自動(dòng)選擇合適的設(shè)置,以生成可重現(xiàn)且可靠的觀測(cè)結(jié)果。
方法:
錐光觀察技術(shù):使用偏光顯微鏡可以實(shí)現(xiàn)快速可靠的晶體結(jié)構(gòu)分析
偏光顯微鏡能夠同時(shí)采集無(wú)畸變的和錐光的圖像信息。采用特殊設(shè)計(jì)的偏光鏡筒通過輔助中間像平面可以使物體、十字準(zhǔn)線和可變光闌同時(shí)可見。通過調(diào)節(jié)型可變光闌能夠?qū)㈠F光觀測(cè)范圍縮小至.小 10μm 的晶體粒度。已對(duì)中的 Bertrand 光路方便開關(guān)。這一特性讓您在不同技術(shù)之間進(jìn)行快速切換 – 甚至在采集圖像或使用視頻設(shè)備時(shí)。
始終如一的測(cè)量性能
- 借助可 360° 刻度和 0.1° 的游標(biāo)尺的旋轉(zhuǎn)、球軸安裝式載物臺(tái)可以輕松實(shí)現(xiàn)測(cè)量,(例如:用于測(cè)量礦物的解理角)
- 光程差測(cè)定或應(yīng)變測(cè)量
- 大量光譜補(bǔ)償器可選,涵蓋從 0 至 30 λ 的測(cè)量范圍。
固定光程差的補(bǔ)償器
- 全波片 λ
- 四分之一波片 λ / 4
- 全波片 λ,可旋轉(zhuǎn)角度 +/- 8°
具有可變光程差的補(bǔ)償器
- 光楔補(bǔ)償器 0-4 λ
- 測(cè)量補(bǔ)償器
- - Berek 傾斜補(bǔ)償器 0-5 λ
- - Berek 傾斜補(bǔ)償器 0-30 λ
Axio Imager 還可提供更多方法,例如:
- 熱顯微技術(shù)
- 使用蔡司 AxioVision 軟件進(jìn)行數(shù)字分析(例如:晶粒度分析或顆粒度分析)