什么是X射線熒光（XRF）光譜儀 X-ray Fluorescence Analysis

１８９５ 年德國(guó)巴伐利亞州維爾茨堡大學(xué)的倫琴教授（W ．C ．R迸ntgen）在實(shí)驗(yàn)室里發(fā)現(xiàn)了一種新的輻射 ，這是一種能透過(guò)人的骨組織 ，又能使照相底片感光 ，穿透力的射線。 由于不清楚這種射線的本質(zhì) ，于是用 “X" 這個(gè)數(shù)學(xué)上表示未知數(shù)的符號(hào)來(lái)命名它 ，這就是 X 射線 ，也被稱(chēng)為倫琴射線

當(dāng)試樣受到x射線高能粒子束,紫外光等照射時(shí)，由于高能粒子或光子與試樣原子碰撞，將原子內(nèi)層電子逐出形成空穴，使原子處于激發(fā)態(tài)

，這種激發(fā)態(tài)離子壽命很短，當(dāng)外層電子向內(nèi)層空穴躍遷時(shí)，多余的能量即以x射線的形式放出，并在外層產(chǎn)生新的空穴和產(chǎn)生新的x射線發(fā)射，這樣便產(chǎn)生一系列的特征x射線

X 射線熒光光譜分析（X-ray fluorescence analysis ，XRF spectromter）是一種非破壞性的儀器分析方法。 它是由 X 射線管發(fā)出的一次 X 射線激發(fā)樣品 ，使樣品所含元素輻射特征熒光 X 射線 ，也就是二次 X 射線 ，根據(jù)譜線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度對(duì)被測(cè)樣品中元素進(jìn)行定性和定量分析。 X 射線熒光光譜法也被稱(chēng)為 X 射線二次發(fā)射光譜法。

常用的化學(xué)元素分析方法有濕法化學(xué)分析和儀器分析。 儀器分析通常包括原子發(fā)射光譜法、原子吸收光譜法、質(zhì)譜法、X 射線熒光光譜法等。 X 射線熒光光譜分析是目前材料化學(xué)元素分析方法中發(fā)展 、應(yīng)用領(lǐng)域、的分析方法之一 ，并在常規(guī)生產(chǎn)中很大程度上取代了傳統(tǒng)的濕法化學(xué)分析. 下圖是X射線熒光光譜儀產(chǎn)生的一張樣品譜圖。