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AgilentN7788B光波元件分析儀

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更新時(shí)間:2022-08-27 19:02:42瀏覽次數(shù):419

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主要特性與技術(shù)指標(biāo)主要優(yōu)勢(shì)通過(guò)單次掃描實(shí)現(xiàn)精度:無(wú)需通過(guò)多次掃描計(jì)算平均值高測(cè)量速度10秒之內(nèi)即可完成C/L頻帶中的完整測(cè)量(無(wú)需等待多個(gè)平均值)穩(wěn)定性不受光纖移動(dòng)/振動(dòng)和漂移的影響描述是德制定了使用N7788B元器件分析儀進(jìn)行元器件測(cè)量的限制

詳細(xì)介紹

主要特性與技術(shù)指標(biāo)

主要優(yōu)勢(shì)

  • 通過(guò)單次掃描實(shí)現(xiàn)精度: 無(wú)需通過(guò)多次掃描計(jì)算平均值
  • 高測(cè)量速度
  • 10 秒之內(nèi)即可完成 C/L 頻帶中的完整測(cè)量(無(wú)需等待多個(gè)平均值)
  • 穩(wěn)定性不受光纖移動(dòng)/振動(dòng)和漂移的影響

描述

是德制定了使用 N7788B 元器件分析儀進(jìn)行元器件測(cè)量的限制, 其專有技術(shù)可與的瓊斯矩陣本征法(JME)相媲美,瓊斯矩陣本征法是測(cè)量光器件的偏振模色散(PMD)或差分群時(shí)延(DGD)的標(biāo)準(zhǔn)方法。

是德新的單次掃描技術(shù)具有一系列優(yōu)點(diǎn),可用于測(cè)試全套參數(shù):

  • DGD/ PMD
  • PDL
  • 功率/損耗
  • TE/TM 損耗
  • 二階 PMD
  • 主偏振態(tài)(PSP)
  • 瓊斯和米勒矩陣

用于生產(chǎn)車間的設(shè)計(jì)

高吞吐量: 在 10 秒鐘內(nèi)對(duì) C 和 L 頻帶進(jìn)行全面分析!

軟件驅(qū)動(dòng)程序: 為系統(tǒng)的外部控制提供一系列軟件驅(qū)動(dòng)程序。 這有助于通用 ERP 系統(tǒng)中的輕松集成。

遠(yuǎn)程控制: 支持通過(guò) LAN 或互聯(lián)網(wǎng)對(duì)儀器進(jìn)行控制, 實(shí)現(xiàn)自動(dòng)操作和故障診斷。

報(bào)告生成: 支持生成 PDF 格式的報(bào)告。 用戶可以配置所有的內(nèi)容(包括版圖)。

實(shí)時(shí)功率讀數(shù): 提供實(shí)時(shí)功率讀數(shù)(支持新器件的光纖耦合),可以對(duì)非連接的器件進(jìn)行高吞吐量測(cè)量。

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