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HTRB高溫反偏老煉檢測(cè)系統(tǒng)

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更新時(shí)間:2023-11-18 22:47:12瀏覽次數(shù):322

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HTRB高溫反偏老煉檢測(cè)系統(tǒng)適用范圍:適用于F型、G型、B型、TO220、TO3P、TO92、片式、軸向、徑向等各種封裝分立器件進(jìn)行高溫反偏試驗(yàn):如各種二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、可控硅、橋堆等

詳細(xì)介紹

HTRB高溫反偏老煉檢測(cè)系統(tǒng)適用范圍:適用于F型、G型、B型、TO220、TO3P、TO92、片式、軸向、徑向等各種封裝分立器件進(jìn)行高溫反偏試驗(yàn):如各種二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、可控硅、橋堆等。

產(chǎn)品關(guān)鍵詞:高溫反偏老化試驗(yàn)箱,光電子器件老化系統(tǒng),電容器高溫老化系統(tǒng),高溫高濕偏置試驗(yàn)系統(tǒng),光電耦合器專用設(shè)備,發(fā)光二極恒流高溫電流壽命試驗(yàn),大功率晶體管老化系統(tǒng),IGBT模塊功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng),集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)、DC/DC模塊高溫老化系統(tǒng)、三端穩(wěn)壓器高溫壽命老化系統(tǒng)、高溫反偏老化系統(tǒng)、HTRB、HTIR、H3TRB、分立器件綜合老化系統(tǒng)、二極管恒流老化系統(tǒng)、二極管全動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)、OPLIFE、功率循環(huán)、IGBT功率循環(huán)老化系統(tǒng)、LED老化系統(tǒng)、電容器高溫老化系統(tǒng)、可控硅老化系統(tǒng)、老化板、老化測(cè)試座、試驗(yàn)電源 等等

高溫試驗(yàn)箱
型號(hào)
廣五所 或 ESPEC GPR-03
試驗(yàn)腔尺寸
600*600*600(mm)
風(fēng)道設(shè)計(jì)
水平豎向循環(huán)風(fēng)道設(shè)計(jì)(老化板豎直插板)
試驗(yàn)溫度范圍
-20℃~+150℃/ 175 / 200℃
/ 25~98%RH 
溫度均勻性
150℃±3℃(空載); 試驗(yàn)溫度波動(dòng)度:±0.5℃
供水:人工補(bǔ)水/自動(dòng)補(bǔ)水
容量
獨(dú)立試驗(yàn)區(qū)數(shù)量
4~8個(gè)區(qū)
試驗(yàn)通道
16個(gè)
單板工位數(shù) / 總?cè)萘?/span>
80工位 / 1280工位
試驗(yàn)電源
試驗(yàn)電源數(shù)量
4~8臺(tái)(一臺(tái)電源對(duì)應(yīng)一個(gè)試驗(yàn)區(qū))
試驗(yàn)電源量程
Max1200V
驅(qū)動(dòng)檢測(cè)板
驅(qū)動(dòng)板數(shù)量
16塊
電壓檢測(cè)范圍
0.0V~1200.0V; 分辨率:0.1V; 精度:±(1%+1LSB)
漏電流檢測(cè)范圍
0.0μA~50.0mA; 分辨率:0.1μA; 精度:±(1%+1LSB)
老化板
基板材質(zhì)
標(biāo)配高Tg基板
耐溫范圍
150℃ / 175℃ / 200℃ 可選
老化板尺寸
290*600(mm)
整機(jī)信息
尺寸
1430W*1400D*2000H(mm)
電網(wǎng)要求
A.C.220V±10% / 50Hz
功率 / 重量
8KW / 600KG

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