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詳細(xì)介紹
XJL-302 DIC
XJL-302 DIC微分干涉相襯顯微鏡適用于對多種物體的顯微觀察。配置落射DIC觀察系統(tǒng)與透射照明系統(tǒng)、無限遠(yuǎn)長距平場消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置，具有圖像立體感且清晰、造型美觀，操作方便等特點，是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。
產(chǎn)品特點
★ 采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，可提供的光學(xué)性能。
★ 緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。
★ 大行程機械移動載物平臺，適合于大試樣顯微觀察或多試樣快速檢測。
★ 模塊化的功能設(shè)計，可以方便升級系統(tǒng)，實現(xiàn)偏振觀察、微分干涉相襯觀察等功能。
★ 符合人機工程學(xué)要求的理想設(shè)計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。
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