Qnix 4500測厚儀檢測方法

Qnix 4500測厚儀檢測方法

在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中，為了實現(xiàn)對各類材料的保護或裝飾作用，通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法，這樣，便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進行成品質量檢測*的zui重要的工序。是產品達到優(yōu)質標準的*手段。
目前，國內外已普遍按統(tǒng)一的標準測定涂鍍層厚度，覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質研究方面的逐漸進步而更加至關重要。
有關覆層無損檢測方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產品或產品表面，系有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍小。因有放射源，故使用者必須遵守射線防護規(guī)范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。電容法一般僅在很薄導電體的絕緣覆層厚度測試上應用。磁性測量法及渦流測量法，隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微處理機技術后，測厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實用化方面邁進了一大步。測量的分辨率已達0.1μm，精度可達到1%。又有適用范圍廣，量程寬、操作簡便、價廉等特點。是工業(yè)和科研使用zui廣泛的儀器。采用無損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，故能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。我金碩特公司現(xiàn)對以下分別介紹幾種常規(guī)測厚的方法分別介紹。

磁性測量原理
一、磁吸力原理尼克斯測厚儀利用磁鐵測頭與導磁的鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關系可測量覆層的厚度，這個距離就是覆層的厚度，所以只要覆層與基材的導磁率之差足夠大，就可以進行測量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結構鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成形，所以磁性測厚儀應用zui廣。測量儀基本結構是磁鋼，拉簧，標尺及自停機構。當磁鋼與被測物吸合后，有一個彈簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增大，當拉力鋼大于吸力磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。一般來講，依不同的型號又不同的量程與適應場合。在一個約350o角度內可用刻度表示0～100μm;0～1000μm;0～5mm等的覆層厚度，精度可達5%以上，能滿足工業(yè)應用的一般要求。這種儀器的特點是操作簡單、強固耐用、不用電源和測量前的校準，價格也較低，很適合車間作現(xiàn)場質量控制。

二、磁感應原理測厚儀磁感應原理是利用測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來測定覆層厚度的，覆層愈厚，磁通愈小。由于是電子儀器，校準容易，可以實多種功能，擴大量程，提高精度，由于測試條件可降低許多，故比磁吸力式應用領域更廣。當軟鐵芯上繞著線圈的測頭放在被測物上后，儀器自動輸出測試電流，磁通的大小影響到感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。早期的產品用表頭指示，精度和重復性都不好，后來發(fā)展了數(shù)字顯示式，電路設計也日趨完善。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其他鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導電層。覆層材料也可以有一定的導電性，通過校準同樣也可以測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3～5倍以上(如銅上鍍鉻)。校準的原則是沒有覆層的校準試樣與被測物的基材應有：成分相同，厚度相同(主要在于厚度小于儀器規(guī)定的zui小值約0.5mm以下時)，便攜式硬度計有相同的曲率半徑，如被測面積小于儀器技術參數(shù)的要求(直徑約20mm以下)，還應有相同的被測面積。如覆層含有導電成份，校準試樣的覆層也應與被測物的覆層有相同的導電性能。校準試樣的覆層經(jīng)過其它(包括有損測試方法)測試后標定厚度或用已標定的校準薄片做覆層，就可以在其上面按說明書的方法校準測厚儀。校準后就可以在被測產品上進行快速無損檢測。校準薄片一般用三醋酸酯薄膜或經(jīng)樹脂浸漬過的硬紙。微電腦測厚一般有多個校準值存貯。隨著被測產品的不同位置、材料變化、更換測頭等均可分別校準并存貯。實際使用時直接調用各校準值，就無須重新調校了。這即是所謂“速換基準”。大大提高了檢測效率。測試數(shù)據(jù)在智能化儀器里一般可以存貯、打印、計算統(tǒng)計數(shù)據(jù)供分析，還有可以打印直方圖的功能使覆層厚度分布一目了然。如設置了上下極限還可以使統(tǒng)計數(shù)據(jù)更加準確，測量時所有超限的點都有聲響提醒注意并不取入做統(tǒng)計計算用。