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兩槽沖擊試驗箱200L

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  • 兩槽沖擊試驗箱200L

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  • 型號 AS2-200
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 所在地 東莞市

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更新時間:2023-02-21 08:41:14瀏覽次數(shù):323

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產(chǎn)品簡介

溫度沖擊試驗箱,又稱高低溫沖擊試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、冷熱沖擊試驗機,適用于對電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進行高低溫溫度冷熱沖擊試驗的環(huán)境試驗箱設備,可滿足電工電子產(chǎn)品及設備等環(huán)境試驗 - 高溫試驗/低溫試驗/溫度變化試驗/高低溫沖擊試驗/溫度沖擊試驗/冷熱沖擊試驗。

詳細介紹

| 產(chǎn)品介紹

兩槽沖擊試驗箱200L

AS2-200

突出特點:

采用全自動PID控制精度高且可省電30%,二箱設備區(qū)分為:高溫區(qū)、低溫區(qū)二部分,測試產(chǎn)品置于提籃中, 沖擊時提籃將測試產(chǎn)品移進高溫區(qū)或低溫區(qū)進行衡擊,測試產(chǎn)品為動態(tài)式,帶開門安全系統(tǒng)。 采用觸控式圖控操作接口,操作筒易。

合作案例

技術參數(shù)

型號AS2-
200A200B200C
性能溫度范圍-55℃至 +180-65℃至 +180-75℃至 +180
溫度沖擊范圍-40℃至+150
   
高溫沖擊:+60℃至+150
   
低溫沖擊:-40℃至-10
-55℃至+150
   
高溫沖擊:+60℃至+150
   
低溫沖擊:-55℃至-10
-65℃至+150
   
高溫沖擊:+60℃至+150
   
低溫沖擊:-65℃至-10
溫度波動度≤±0.5 (恒溫時)
溫度偏差≤±2.0
溫度均勻度≤±2.0
溫度恢復時間≤3分鐘
轉(zhuǎn)換時間≤10S
升降溫過沖≤±2.0
高溫室+60℃~+180℃
預熱時間+60℃~+180℃ 25分鐘以內(nèi)
低溫室-55℃~-10 -65℃~-10-75℃~-10
預冷時間+20℃~-55 45分鐘以內(nèi) +20℃~-65 45分鐘以內(nèi) +20℃~-75 45分鐘以內(nèi) 
試驗室-40℃~+150-55℃~+150-65℃~+150
恢復時間高溫暴露30分鐘
低溫暴露30分鐘
恢復時間3分鐘以內(nèi)
標稱內(nèi)容積(L216
吊籃尺寸
   
(寬**高)mm
600
600
600
外箱尺寸
    (寬*深*高)mm
1670
237024202570
2330
材質(zhì)內(nèi)箱材質(zhì)不銹鋼(SUS 304
外箱材質(zhì)鋼板靜電噴涂表面處理或不銹鋼(SUS304)
保溫材質(zhì)高密度聚胺脂發(fā)泡+玻璃棉
送風測溫系統(tǒng)送風特點由試驗箱從右向左水平送風
循環(huán)馬達中國臺灣東元高低溫馬達
風輪耐高低溫鋁合金葉片多翼離心式風輪,耐高低溫鋁合金葉片
溫度傳感器T型鉑電阻溫度傳感器
制冷系統(tǒng)水冷或風冷
機械式蒸氣壓縮復疊式,環(huán)保冷媒R404A/R23
控制電路系統(tǒng)控制方式由控制器輸出信號通過SSR固態(tài)繼電器實現(xiàn)高精度無觸點開關控制
控制電路控制線路主要零部件均為優(yōu)質(zhì)品牌(如法國施耐德電氣)
控制器顯示屏  
     運行方式
     記憶容量
     控制精度
     傳感器輸入
     通訊接口
7TFT真彩LED液晶觸摸屏接口(65535真彩色,分辯率800*480);  
     
程式控制,定值控制;
   
程序容量可達127個程式,超長運行,每段999小時,32000次循環(huán);
     -90.0
℃~200.0℃(-90.0℃~300.0℃可定制)誤差±0.2℃;
   
同時支持T、PT100等多種傳感器輸入;
   
自帶USB接口,支持RS-485、LAN、GPRS(手機)等方式通訊 (軟體另購)
結構箱門單開門兩式,左開
箱體固定標準配置固定器具或者腳輪,用于移動箱體/用于固定箱體
測試孔ф50測試孔 1個(帶軟質(zhì)耐老化橡膠塞)
密封硅膠密封條
壓力平衡口1/2寸排水共用型
設備排水口標配1/2內(nèi)箱凝結水及機組余水排水口
設備噪音≤70dBA聲級, 恒定時,設備正前方1米處)
使用環(huán)境溫度+5℃~+35℃
電源功率AC 3801±10%V 50±0.5Hz 三相四線+保護地線
保護裝置加熱器空焚保護開關;加熱器過電流斷路器;無熔絲開關;線路斷路器;循環(huán)風扇過電流超載保護;壓縮機高壓保護開關;壓縮機過熱保護開關;壓縮機過電流保護開關;欠逆相保護開關。
標準配件試品架2套、直徑50MM測試孔軟塞一套、操作說明書保養(yǎng)手冊、本設備出廠前經(jīng)本公司質(zhì)量檢驗中心檢測,并出具有效期為一年的檢驗報告。


注:以上技術參數(shù)為室溫+20℃或循環(huán)水溫+25℃、空載(無試樣)時下所測得。

試驗標準及方法

1)GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件;
2)GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);
3)GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);
4)GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);
5)GJB 150.3-86 設備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗;
6)GJB/T 150.4-86 設備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗;
7)GJB/T 150.5-86 設備環(huán)境試驗方法 第5部分 溫度沖擊試驗。

標準配置

試品架2套、直徑50MM測試孔軟塞一套、操作說明書保養(yǎng)手冊、本設備出廠前經(jīng)本公司質(zhì)量檢驗中心檢測,并出具有效期為一年的檢驗報告。

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